二手 FEI Strata FIB 205 #9233566 待售

FEI Strata FIB 205是一种高端扫描电子显微镜（SEM），专为需要先进成像和制图能力的研究人员和科学家设计。该设备提供了多种有用的功能,以确保尽可能提供最高分辨率的成像和分析。Strata FIB 205基于野外发射枪（FEG）和专门为DualBeam工作流设计的定制设计的Quattro标本级。先进的光学、纳米支架、优越的样品照明，以及众多的配件，使系统成为了强大的成像和数据收集工具。Quattro级能够携带厚度达9mm的样品，特别适合3D纳米结构成像。FEI Strata FIB 205具有高亮度FEG,可提供卓越的分辨率和高光束电流密度,从而提高成像速度。该单元还具有6.3英寸的大视场,能够成像大样本量,并改善聚焦深度。地层FIB 205还包括各种样品持有者和阶段，例如相关映射阶段，它能够自动关联来自二次电子和反向散射电子探测器的数据。SuperDry样品支架提高了亲水样品的成像质量，而CrystalView样品支架则设计用于实时成像结构化表面。FEI Strata FIB 205启用了IntelliTune,可根据任务自动检测,以及易于使用的自动映射软件和自动图像处理,以获得更好的结果。该机器还包括高级图像采集工具,这些工具能够捕获超高分辨率数据或执行较大规模的表面测量。Strata FIB 205为研发应用提供了最先进的扫描电子显微镜性能。FEI Strata FIB 205具有先进的成像和制图功能、出色的样品制备和自动化工具,是现有功能最强大的扫描电子显微镜系统之一。