二手 FEI / TECNAI F20 X-TWIN #9151726 待售

FEI/TECNAI F20 X-TWIN是一种用于高分辨率成像和分析的扫描电子显微镜。其侧向系数为0.25nm（纳米），深度分辨率为0.065nm（纳米）。这种精密的电子显微镜结合了肖特基场发射（FE）和场发射转移（FET）技术，提供增强的分辨率和图像对比度。FEI F20 X-TWIN由一个包含一对高压电源的显微镜柱和一个支持电子光学的磁场翼组成。它还配备了一个样品级，专门设计用于在各个方向和变速下移动样品表面，以实现高度精确和精确的成像。TECNAI F 20 X-TWIN除了传统的SEM应用之外，还提供高级成像功能，如X射线和电子断层扫描。它还允许用户对使用FET技术无法在SEM中检查的非导电材料和样品进行成像。它具有高清CCD电子探测器和集成的电荷还原真空稳定系统，以有效减少充电伪影。这款电子显微镜的一个重要方面是其EvolutionTM显微镜控制系统，它为多种应用提供了用户友好的环境和全面的成像能力。它为更高级的分析，如能量色散X射线光谱（EDS）、能量滤波（EFS）和反向散射电子成像（BSEI）提供了附加附件。此外,其电动液氮冷却硅漂移检测器（SDD）提供了广泛的元素分析功能。这种特性对于诸如半导体工业中使用的那些需要精确测量元素比率和数量的材料特别有用。总体而言，F20 X-TWIN是一种高度专业化的扫描电子显微镜，用于高分辨率成像和分析。由于其SCHOTTKY现场排放和现场排放转移技术，它提供了出色的分辨率和图像对比。其EvolutionTM显微镜控制系统支持轻松操作,并提供强大的成像功能以及各种附件,以满足更高级的分析要求。因此，FEI/TECNAI F20 X-TWIN在先进材料和半导体应用方面是同类产品中最好的之一。