二手 FEI Tecnai G2 F20 #293618175 待售

FEI Tecnai G2 F20是一种多功能扫描电子显微镜（SEM），设计用于多种研究和工业应用。它利用聚焦的电子束实现对散装材料表面或横截面的高分辨率成像。这款SEM配备了冷场发射枪（FEG）电子源，在具有挑战性的应用中提供出色的图像分辨率和卓越的性能。它能够成像样品，最大面积6.5厘米x 6.5厘米，最大放大倍数为300,000X。此外，Tecnai G2 F20拥有集成的气体注入样品级系统（GIS），使用户能够精确地进行气态或真空室SEM操作。FEI Tecnai G2 F20的样品处理特性允许自动、非接触式样品加载和优化振动控制。它有一个大的样品室，可以很容易地与额外的样品持有者进行定制分析。封闭式腔室可消除环境污染，还可收集二次电子用于表面光谱。在成像和分析能力方面，Tecnai G2 F20可以收集高分辨率的反向散射电子（BSE）和SE2（二次电子）图像。它具有可变的扫描速度、图像大小和电流范围，以满足各种样品要求。使用可变压力BSE、单色成像和边缘增强等几种预定义的对比度技术，用户可以在不同的图像类型中增强对比度和可见度。FEI Tecnai G2 F20具有广泛的分析能力。其EDS系统采用牛津仪器X-MAX 80探测器供电，轻松融入SEM环境。它能够以出色的速度、灵敏度和分辨率进行元素分析,并且用户可以执行图像关联来查找感兴趣的特征。Tecnai G2 F20是一种先进的SEM,非常适合需要卓越成像和分析性能的研究和工业应用。它用途广泛，可以处理广泛的样本，允许进行详细的分析、可视化和表征。