二手 FEI / TECNAI G2 F30 S-Twin #9028804 待售

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ID: 9028804
Scanning / Transmission electron microscope (S/TEM) 0.34 nm point-to-point Resolution Gatan Tridiem 863 CCD 2k x 2k Camera Vacuum: diffusion pump with mechanical RP Gun: Schottky FEG 20 – 300 kV Automatic aperture system Imaging: STEM, HAADF, BF/DF 2k x 2k CCD Spectroscopy: Edax EDS Gatan 863 Tridiem Holography (Bi-Prism, and Gatan Holoworks) Lorentz Tomography (FEI SW and tomography holder) EFTEM EELS Lens control Sample holder: Single tilt compustage High visibility double tilt low background holder Tomography holder 2006 vintage.
FEI/TECNAI G2 F30 S-Twin扫描电子显微镜(SEM)是一种用于对各种样品进行高分辨率成像和分析的先进仪器。它包括一个大的视野和动态聚焦与双腔室系统,旨在保持样品制备和仪器操作分开。这种先进的显微镜还具有能量色散X射线光谱(EDS)探测器,提供样品的元素分析。FEI G2 F30 S-Twin SEM具有电子枪,可提供0.1nm的波长,以实现卓越的分辨率和高倍率成像。它设计用于在更高的电流和电压水平下操作,用于广泛的应用,包括成像生物标本、测量材料的微观结构和表面粗糙度、细胞病理学以及药物输送研究。该仪器的聚焦离子束(FIB)技术也提供了出色的稳定性和分辨率。TECNAI G2 F30 S-Twin SEM因其双腔室架构、4轴电动舞台和高级软件功能而设计为提供卓越性能。SEM使用先进的电子和光学技术相结合,实现了具有详细对比度和深度的高分辨率成像。它还配备了坐骨晶状体,允许从上、下两个表面观察标本,以及可选的低真空模式,用于成像细腻的样品材料。除了标准成像任务外,G2 F30 S-Twin还具有一系列分析能力,包括能量色散光谱(EDS)检测器、自动粒子分析(APA)、反向散射电子(BSE)成像和扫描离子微探针(SIM)。此外,它的光束电流自动对焦系统和自动化的优化使得能够对样品的化学和结构进行详细的表征。总体而言,FEI/TECNAI G2 F30 S-Twin SEM是一种功能强大且用途广泛的工具,用于对各种样品进行高分辨率成像和分析。它提供了无与伦比的特性和功能组合,包括卓越的分辨率、先进的机电设计、高水平的自动化以及广泛的分析工具。
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