二手 FEI Tecnai G2 F30 #9199627 待售

FEI Tecnai G2 F30 Scanning Electron Minccope是一种功能强大的高分辨率仪器,用于对纳米尺寸的粒子和结构进行成像,能够产生分辨率高达30 nm的图像。该工具针对金属合金、半导体和陶瓷等无机和纳米尺寸材料的成像进行了优化。Tecnai G2 F30配备了场发射枪（FEG）电子源，提高了图像的稳定性、质量和分辨率。这种电子源还提高了更快的样品分析的吞吐量，导致更高的精度和结果的一致性。FEI Tecnai G2 F30扫描电子显微镜采用明亮高分辨率电子柱，非常适合高CONTANGO敏感样品、高效分析工作和3D成像。采用智能APE技术进一步提高了显微镜的工作效率，自动优化了被成像样品的电子束能量和亮度。除了成像能力外，Tecnai G2 F30还具有能量色散X射线光谱（EDS）、电子反向散射衍射（EBSD）、扫描电子显微镜-能量色散光谱（SEM-EDS）、元素映射等先进分析方法。这些分析方法对标本提供了更准确、更详细的观察，从而可以更深入地了解其组成、结构和性质。该系统包括各种配件，如自动级、样品架和支架、精确测光的孔径、标本对准的照明技术，以及用于检测低能和高能离子的各种Everhart-Thornley探测器。FEI Tecnai G2 F30扫描电子显微镜非常适合用于研究、工业和教育应用。其精密的工程设计、精密的电子设备和高分辨率的成像功能使其成为任何用户寻求从金属合金到半导体等各种材料的详细信息的宝贵工具。