二手 FEI TEMLink 14771-003 #9298772 待售

FEI TEMLink 14771-003是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于高分辨率成像、分析和自动化应用。它是研究级电子显微镜的经济高效的解决方桉，具有广泛的特点和先进的性能。TEMLink 14771-003配备了高占空比、峰值亮度100 nanoAmps/cm2的镜头内场发射源（FES）。这项技术允许在成像和自动分析方面具有很高的分辨率。此外，FEI TEMLink 14771-003配备了集成表面分析设备（SAXFPE），用于元素分析和化学检测。该系统配有AE探测器、EDX探测器、高光谱成像单元和STEM探测器，以确保最大的数据精度。TEMLink 14771-003的设计还包括其高分辨率的特点。FEI TEMLink 14771-003具有较长的工作距离（35微米）和较高的数值孔径（1.2）,能够以高达4 nm的分辨率对样品进行成像和分析。TEMLink 14771-003还具有对其组件的软件控制功能,允许其系统进行远程操作和自动化。FEI TEMLink 14771-003还带有多种图像处理功能以及自动化的机器分析程序。这些程序包括统计分析工具和人工智能（AI）驱动的对象分类工具。工具设置的自动化可用于设置预先确定的成像参数和校准,以便进行可靠的测量。最后，TEMLink 14771-003还包括在长期和短期实验中保持显微镜稳定和安全的环境控制选项。这包括控制大气和湿度室、压力和振动控制以及真空资产等特征。总体而言，FEI TEMLink 14771-003是一种适用于研究级成像分析的高性能扫描电子显微镜。它具有多种特性，使其成为适用于高分辨率成像、表面分析、自动化和环境控制的工具。其镜头内现场排放源（FES）和软件自动化功能允许在经济高效的解决方桉中实现高分辨率成像和自动分析。