二手 FEI XL 30 #293820770 待售

ID: 293820770
Scanning Electron Microscope (SEM).
FEI XL 30是当今领先的扫描电子显微镜(SEM)之一,提供一流的性能。它旨在为各种应用程序提供卓越的成像功能,使用户能够仔细检查和分析有机和无机材料。XL 30具有可变压力设计,允许在不同程度的真空下操作,使用户能够从样品中清除污染物,从而产生更高分辨率的图像。其直接离子探测器(DID)提供了对样品电荷密度的快速、准确的分析,而不必中断成像会话。采用静电透镜的基于检流计的物镜提供高达5毫米的工作距离,使用户能够以更高的放大倍率观察样品。它还配备了数字图像处理器,允许用户调整对比度和亮度等成像参数,以优化图像质量。FEI XL 30能够在高真空和低真空扫描模式下运行,允许用户对在高真空环境下会被破坏的脆弱样品成像。它还配备了多种样品阶段,包括XY样品移动阶段、标准自动阶段、旋转样品阶段。XY样本移动阶段允许精确的样本定位,并允许对大面积进行串行成像。自动级提供样品的遍历和接近移动,允许自动图像采集和导航。旋转采样级具有最多可容纳5个采样的能力和高度精确的角度分辨率。XL 30还包括一个PC控件,它提供了一个用户友好的图形用户界面。这个界面允许用户控制显微镜并访问收集到的数据。总体而言,FEI XL 30是一款先进的扫描电子显微镜,为用户提供卓越的成像能力、众多的样品级以及PC控制功能。这些特性使用户可以方便地分析、观察和成像各种标本和材料。
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