二手 HITACHI NE-4000 #9260762 待售
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ID: 9260762
优质的: 2011
Electron Beam Absorbed Current (EBAC) characterization system
Driving method: Piezoelectric
Fine stroke range: 5 µm (X,Y)
Coarse stroke range: 6 mm (X,Y)
Specimen stage / Base stage
Specimen size: 25 mm × 25 mm × 1 mm Thick or less
Traverse position: Measurement / Specimen exchange position
Specimen exchange: Air-locked exchange chamber
Prober navigation:
Stage traverse to probe position
Measurement position memory
Probe coarse adjustment:
CCD Image display: Image display from lateral direction
Electron optics:
Electron gun: Cold field emission electron source
Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV
Resolution: 15 nm (at 2 kV, WD: 15 mm)
Image shift: ±150 µm (at 2 kV, WD: 15 mm)
EBAC Amplifier / Image display:
Amplifier type: Current amplifier / Differential amplifier
Image display: SEM / EBAC (Single / Parallel / Overlay)
Image processing:
Black and white reversal display
Color display
Brightness adjustment
Slow scan integration
Belt scan
Utility:
Room temperature: 15°C - 25°C
Humidity: 60% RH or Less
Grounding: 100Ω or Less
Power supply: AC 100 V, ±10% 5 kVA (M5 Crimp terminal)
2011 vintage.
HITACHI NE-4000是一种用于研究和工业分析的扫描电子显微镜（SEM）。该设备配备了数字断层扫描，提供了出色的放大倍率和多种多样的成像能力。凭借高分辨率扫描功能和集成的图像分析系统,NE-4000能够对分辨率高达0.35 nm的微结构进行精确成像。显微镜具有专用的物镜，旨在最大限度地提高成像效能和性能。为电子束提供了一个超高频电源，以确保稳定性和重复性。显微镜的其他特征包括一个标本涂层放电源、一个最高温度为540°C的样品室、一个柱内光束遮挡器和一个电子枪控制单元。HITACHI NE-4000单元还具有全自动的标本处理机，可用于安装和引入标本进行分析。该工具允许用户对标本进行高分辨率扫描，并对标本位置和放大倍率进行精确控制。在自动资产到位的情况下,显微镜可用于映射、3D成像、相关显微镜等多种应用。该型号的高精度成像性能通过使用CCD相机设备进一步增强，该设备直接与显微镜相连。该系统能够捕获高达2500万像素的数字图像，并具有令人印象深刻的详细程度。图像也易于处理，因为该单元与各种用于图像分析和处理的软件包兼容。NE-4000机还配备了高速扫描阶段、智能图像处理、高分辨率数字成像等一系列信号处理、成像和测量工具，以提高成像性能。此外，显微镜还能够实时显示3D图像，这使得该工具特别适合工业检验和研究实验室应用。总体而言，HITACHI NE-4000是纳米级微结构高分辨率成像的理想选择。凭借其先进的成像能力和自动化的标本处理，它能够提供精确的图像，具有出色的细节水平和准确性。该资产设计方便用户，易于使用，是研究和工业应用的绝佳选择。
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