二手 HITACHI S-3000H #293596949 待售
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ID: 293596949
优质的: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM)
Tungsten gun
SE Detector: High
EDS Type: LN2
BSE Detector
Magnification range: 300.000x
Operating system:
SEM: Windows NT
EDS : Windows XP
2001 vintage.
HITACHI S-3000H是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于纳米级材料的增强性能和超高分辨率成像。它专为半导体和高密度电路应用而设计，为各种样品提供优化成像。HITACHI S 3000 H具有柱内能量滤波器和提供二次电子和反向散射电子成像的溷合成像设备。该系统能够捕获材料表面和地下的非常高分辨率的图像，这些图像可用于各种应用，包括电气、电子、化学、冶金和生物医学研究。S-3000H由四个主要成分组成：扫描电子柱、聚焦透镜、柱内能量滤波器和检测器。扫描电子柱利用铝化样品室，具有高角度入射电子单元，使设备能够精确扫描样品表面。此外，这台机器还配备了可变的大视野，能够快速成像和非常稳定的光束形状。聚焦透镜针对低像差进行了优化，旨在减少色差和球差。这样可以确保产生具有最小失真的高分辨率图像。柱内能量滤波器利用了用于扫描样品的电子能量。可以控制这种能量来分析样品表面的不同操作模式，如能量色散X射线光谱分析（EDX）和二次电子成像。这些模式使S 3000 H能够高精度地可视化和检查不同组分的组成以及样品的微观结构。此外，该探测器能够检测样品表面反向散射的电子，并产生相同的高质量图像。HITACHI S-3000H还配备了一个非常可调的光学工具，增加了它的精度和分辨率。这种光学资产允许将光斑尺寸从1000 nm调整为10 μ m,景深从5 nm调整为15 μ m。此外，该装置还能达到高达0.6的数值孔径，进一步提高了纳米级成像系统的精度。柱内能量滤波器、可调光学模型和高级检测器的组合为HITACHI S 3000 H提供了一个更高的分辨率水平，使其能够产生分辨率高达一纳米的图像。总之，S-3000H扫描电子显微镜提供了非常先进的成像水平，非常适合纳米级材料特征的各种研究和分析。其柱内能量滤波器和可调光学设备为S 3000 H提供高达一纳米的分辨率，使其成为各种应用中对表面和地下特征进行详细成像和分析的理想选择。
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