二手 HITACHI S-3000N #9176872 待售

HITACHI S-3000N
ID: 9176872
优质的: 2001
Scanning electron microscope (SEM) Compaq computer for SEM operation: OS: Windows NT HP Computer for EDS operation: OS: Windows 2000 with EDAX SONY SSM-930 B&W Monitor Robinson chamber view CCD camera (2) HITACHI VR16-K Vacuum pumps FRANKLIN ELECTRIC Electric pump HASKRIS Chiller HITACHI SEM Manual Various spare parts Flat screen monitor included Resolutions: Secondary electron image resolution: 3.5 nm (High vacuum mode) Back-scattered electron image resolution: 5.0 nm (Variable pressure mode) Magnification: 15x to 300,000x (65 Steps) Electron optics: Filament: Pre-centered tungsten hairpin type Gun bias: Self-bias + Continuously variable bias Emission current: 10^-12 to 10^-7 A Gun alignment: 2-Stage electromagnetic alignment Condenser lens: 2-Stage electromagnetic condenser Objective lens: Super conical lens Objective lens aperture: (4) Opening movable apertures Stigmator coil: 8-Pole electromagnetic X / Y correction for astigmatism Image shift: +/- 20 um or more (W.D= 15 mm) Accelerating voltages: 3.0 to 30 kV (1,171 Steps) 0.3 to 9.99 kV (In increments of 10 V) 10 to 30 kV (In increments of 0.1 kV) 2001 vintage.
HITACHI S-3000N扫描电子显微镜(SEM)是一种先进的成像和分析设备,设计用于一系列研究和工业应用的卓越性能。该系统结合了一个大腔室,改进了稳定性和屏蔽,以及一系列为仔细、准确的成像、分析和评估而设计的功能。SEM具有5 kV至30 kV的加速电压范围,能够观察从纳米到微观的样品特征。样品室有较大的检查空间(250 x 250 mm)和先进的、低噪声的转盘,用于舞台旋转和样品平移。这些功能提供稳定可靠的性能,使用户能够使用更大的视图字段并观察复杂的细节。先进的成像单元采用了专利的钨丝设计和长寿命屏蔽,以保护SEM免受漂移,提高机器的耐用性。此外,该工具保持高分辨率的放大倍率高达5,000X,使其适用于详细的研究和复杂的样本。内置软件还包括一系列工具集,如图像配准和图像缝合软件,允许用户构建其样本的3D图像。利用此功能,用户可以创建详细的精确图像并监控其样本的表面地形。HITACHI S-3000 N还配备了广泛的分析能力,包括元素分析和X射线映射。它旨在使用户能够对样本的内部结构和精细细节进行快速、准确的表征。此外,集成的HITACHI E-SEM软件套件使资产易于使用,因为它简化了用户操作,从样本准备到分析结果报告。此软件允许用户高效、轻松地控制模型。总体而言,S 3000 N扫描电子显微镜结合了精度和功率,使用户能够以最精细的细节观察和分析他们的样本。凭借其卓越的屏蔽和卓越的成像能力,这款功能强大的设备是研究人员、工业家和其他从事多种材料工作的专业人士的宝贵工具。
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