二手 HITACHI S-3200 #9243691 待售

HITACHI S-3200
ID: 9243691
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3200是一种扫描电子显微镜(SEM).该SEM的最大分辨率为1.5纳米,能够观察纳米级特征。其观测范围可扩大至200,000X倍。S-3200配备了反向散射和二次电子探测器(BSD和SED)系统来捕获样品中轻元素和重元素的图像。BSD和SED系统结合了专利的低温灯丝,允许显微镜捕获低真空信号。这种改进的信号质量和增强的内置测量功能能够快速测量样品尺寸,而无需手动调整阶段。HITACHI S-3200还具有一个高效的电子光柱,设计用于高放大倍率精确成像样品。采用由横杆偏转器和电极组成的多级冷凝器光学系统,调整光束形状,使其与样品对齐。此外,一个磁场已经集成到这个系统中,以消除电子束的任何像差,实现更高分辨率的成像。S-3200的设计包含两个目标,可实现全面成像。第一个目标是表面检查的顶视图目标。它提供了更大的聚焦深度和更好的分辨率,允许自上而下和倾斜成像。第二个目标是两束BSD目标,设计用于两束成像和增加信号间隙。HITACHI S-3200还采用了低漂移级设计,以尽量减少观测过程中的震动和振动。这种设计利用气动元件和温度控制的气流来保持样品在观测过程中的稳定。S-3200在各种环境条件下运作。其自动调谐功能可以快速适应不同的温度/湿度水平,确保在任何时候都能准确运行。HITACHI S-3200还有一个现有的阶段设置算法,可在需要时在工作环境之间快速切换。此外,S-3200还提供高级数据采集和分析功能。它支持快速的图像捕获、自动化,并具有直观的图像管理系统。它还具有3D自动化和图像处理功能,使检查纳米级样本特征更加容易。总体而言,HITACHI S-3200是一种先进的扫描电子显微镜,设计用于高放大倍率成像样品。它提供了广泛的成像功能,包括反向散射和二次电子探测器、低漂移级设计以及高级数据采集和分析。此外,S-3200的自动调谐和舞台设置算法允许在各种环境条件下进行极其稳定的操作。因此,HITACHI S-3200是纳米成像应用的理想选择。
还没有评论