二手 HITACHI S-3200N #9208242 待售

ID: 9208242
优质的: 1997
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: Secondary electron image resolution: 3.0 nm (Vacc 25 kV, high vacuum mode) Back-scattered electron image resolution: 4.5 nm (Vacc 25 kV, variable pressure mode) Magnification: 15x to 300000x (143 steps) Electron gun: W (Tungsten) Hairpin type Voltage: 0.3 ~ 30 kV Specimen size: 150 mm dia maximum View monitor: 17" CRT Type Auto function: Start Gun align Filament saturation Focus ABC Operation: Mouse Sub control pad Super eucecntric stage: X-Axis: 0 ~ 32 mm Y-Axis: 0 ~ 32 mm Z-Axis: 5 ~ 35 mm Tilt: -90 ~ 90° Rotation: 360° (non step) Vacuum pump: (2) Rotary pumps Diffision pump Control system: TV Fast mode TV Slow mode 1~4 Step slow mode Reduce mode Rotary pump: (2) HITACHI CuteVac VR16L-K Option: Water chiller HITACHI W4010 Image capture PC Power / Utility: PCW: 1~1.5 liter/min Pressure: 0.5~1 kg/cm³ Pressure dry air (PDA): 5 kg/cm³ AC 100 V, 1 Phase, 5 kVA within GND 1997 vintage.
HITACHI S-3200N是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),设计用于探测各种材料的微观和纳米结构。它集成了一个先进的数字扫描设备,具有内置的舞台和高分辨率探测器,从而产生高图像对比度,提高图像分辨率,以及更大的景深。HITACHI S 3200 N包括一个高通量的自动级系统,用于自动可重复的样品装载和阶段扫描。多种先进的成像技术可与显微镜配合使用,包括高对比度二次电子成像(SEI)、反向散射电子成像(BSEI)和分析扫描,包括电子色散光谱或能量色散光谱(EDS)。S-3200N允许用户拍摄具有多种物镜的高分辨率图像,放大倍率从0.5到1,000,000倍,工作距离在0-10mm之间。S 3200 N的镜头校准单元确保这些图像真实准确。HITACHI S-3200N具有一整套扫描控制功能,使用户能够调整基本的SEM参数以优化图像采集。采用自动校准程序,确保真空运行最佳。显微镜具有抑制噪声的机器和减少噪声干扰量的动态滤波技术。HITACHI S 3200 N的Stage Control Tool实现了以纳米为增量的x、y、z轴可重复精度的自动导航。该级还具有倾斜和旋转功能,允许在x和y轴上进行精确的样品定位,以及用于表面成像的旋转样品定位。S-3200N还包括一个自动计数函数,它可以准确计算用户定义区域和样本中的粒子。这有助于分析样品中的颗粒分布,有助于了解粒径分布和孔隙度。S 3200 N能够自动从一个样本中获取多个图像。此函数可用于监视曲面随时间的变化或创建样本曲面的完整3 D图像。显微镜还可以连接到PC,用于图像处理、分析和数据/结果共享。HITACHI S-3200N专为高性能扫描电子显微镜而设计,提供各种材料和样品的高级成像功能。HITACHI S 3200 N具有内置的阶段和自动化系统,是精确纳米科学研究的理想选择。
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