二手 HITACHI S-3400N Type II #9328867 待售

HITACHI S-3400N Type II是一种以先进技术设计的扫描电子显微镜（SEM），以进行高精度成像和分析。它非常适合广泛的领域，如生命和材料科学，以及微型和纳米电子。此SEM能够生成分辨率为84 nm的详细图像。该仪器具有双加速电压，允许其用户以两种不同的放大倍数进行成像和分析。S-3400N II型具有用于热敏样品成像和分析的温度室。它可以在5°C至350°C的温度下运行，使其成为分析半导体基板到纳米结构材料的理想工具。加速器镜头设计基于Cloverleaf设计，它使用户能够对低至0.6 nm的分辨率进行成像和分析。该工具具有低真空视场发射电子枪，用于高对比度成像，低工作距离和噪声抑制。HITACHI S-3400N II型有一个能量色散X射线探测器和一个256通道EDX系统进行元素分析。该仪器真空性能低，能够对非导电材料和高导电材料进行分析。它还具有全方位的分析，包括高分辨率成像、荧光信号和能量色散X射线光谱（EDS）。该仪器在功能强大的图形用户界面（GUI）上运行,允许用户轻松操作计算机。用户可以保存和存储分析数据以供进一步研究。它还配备了一个样本图像库，允许一个人比较一些记录的数据。S-3400N Type II具有用于定位和图像导航的自动校准系统,可帮助用户正确定位和导航图像。此高端SEM旨在满足许多领域的极端成像和分析需求。HITACHI S-3400N Type II凭借其先进的技术、精确的测量以及广泛的分析能力，是各种研究领域的完美仪器。