二手 HITACHI S-3400N #293661076 待售
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ID: 293661076
优质的: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system
THERMO SCIENTIFIC Noran System 7 Analyzer
THERMO SCIENTIFIC UltraDry silicon drift X-ray detector
ULVAC GLD-136C Oil-sealed rotary vane vacuum pump
THERMO ELECTRON C10017
2007 vintage.
HITACHI S-3400N扫描电子显微镜（SEM）是为先进的科学和工业研究及分析而设计的高性能仪器。它旨在在广泛的领域运作，包括材料科学、过程控制、生物医学和半导体研究。HITACHI S-3400 N旨在将最终性能与易于操作相结合。采用半自动化功能可减少样品准备和分析过程中所需的时间和工作量,而连续测量功能可确保结果的准确性和可重复性。S 3400 N利用扫描电子柱，该电子柱由场发射阴极、0-30kV的加速电压和允许低真空和低噪声成像的电弧探测器组成。有了这些组件，设备能够在50,000X放大倍率和30 kV的加速电压下达到1.2 nm的分辨率。通过包括一个列内能量色散X射线（EDX）分析系统来加速S-3400N的成像。该EDX分析单元对样品中发现的元素进行定量测量,从而能够更全面地了解所研究材料的组成。HITACHI S 3400 N也可用于利用电阻量化器（RQ）评估样品的形状和结构。RQ将几种不同的数字算法与暗场成像相结合，使得对表面浮雕、特征大小和形状以及其他参数的定量分析能够以最小的努力进行。为了保证S-3400 N的操作员的安全，该机配备了几个安全特性。这些功能包括用户激活的9mm厚铅合金光束屏蔽,在激活时在SEM柱前滑动,最大限度地减少镜面反射的随机X射线辐射,从而造成皮肤损伤。SEM还配备了低噪声的分流调节器和离子陷阱工具，防止发射的电子逸出，对用户造成伤害。HITACHI S-3400N还提供了与各种软件的集成,允许对图像和EDX测量进行数据处理和分析。此软件集成允许存储、处理数据并与各种系统共享数据。为确保HITACHI S-3400 N的最佳性能,建议定期维护。这包括定期清洁真空组件（图像柱和EDX探测器），以清除任何可能阻碍资产性能的碎片堆积。综上所述，S3400 N扫描电子显微镜提供高性能成像能力，出色的能量色散X射线（EDX）分析能力，并融合了众多的安全特性。结合易于使用的自动化功能,S-3400N可提高用户效率并实现研究结果的最佳吞吐量。
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