二手 HITACHI S-3400N #9384953 待售

HITACHI S-3400N是一种扫描电子显微镜（SEM），为广泛的材料和样品提供高分辨率的成像和分析能力。它建立在卓越的Advanced Parallel Electron Beam （APE）柱之上，拥有高达10千伏的加速电压、高达200 pA的束电流和5-200 keV的束能量扩散，允许高精度测量材料的形状、结构和元素组成。HITACHI S-3400 N利用先进的多极性焦点对准设备（FAS）,以最小的努力校准并保持最佳性能。该系统配备了高精度电子束自动聚焦机构和空气冷却单元，使其即使在长时间的观察期间也能保持功能。此外，这种多功能仪器具有6轴样品级控制，样本量在0.2mm至100 mm之间，样本量可达4kg。S 3400 N的主要优点是具有高分辨率成像能力。它是用一个具有高数值光圈的两级冷凝器透镜制造的，使使用者可以观察到样品中低至0.2纳米的错综复杂的结构和细节。此外，机器配备了集成的SE（二次电子）检测器和高灵敏度的SE检测器，使用户能够以最佳速度从样品中精确获取图像。S-3400N还为研究样品提供了广泛的分析能力。它可以获取分辨率高达0.1%的EDX（能量色散X射线光谱）光谱，以及分辨率高达0.01%的WDX（波长色散X射线光谱）图。它也可用于EBSD（电子反向散射衍射）观测，具有四种不同的分析模式，以及表面分析，表面状态范围从清洁电流超过1A/cm2到表面电流高达0.002A/cm2的流动敏感样品。为了为各种应用程序提供最佳性能,HITACHI S 3400 N提供了一系列高级功能。其中包括允许用户同时观察样本的曲面和地下的双视图模式,以及允许捕获样本的3D曲面图像的3D模式。此外，仪器先进的成像控制工具使用户能够在观察样品的同时轻松操纵电子束，以及存储图像、设置和其他与观测有关的数据。简而言之，S-3400 N是一种先进的扫描电子显微镜，具有多种分析和成像功能，使用户能够精确地观察和分析样品。其先进的FAS资产、高灵敏度探测器、强大的光束能量扩散以及6轴采样级控制为用户提供了广泛应用的最佳性能。