二手 HITACHI S-3500N #9291860 待售
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已售出
ID: 9291860
Scanning Electron Microscope (SEM)
Nitrogen-cooled by EDAX
No cooling unit
Scintillator damaged
Operating system: Windows XP
Resolution:
Secondary electron image: 3.0 nm (High vacuum mode)
Backscatter electron image: 5.0 nm (Variable print mode, Robinson BSED), 4.0 nm (Variable print mode, YAG BSED)
Magnification: 15x to 300000x (65 Steps)
Includes:
SE
BSE
ESED
EDX Detectors
Infrared sample room camera
Backing pumps
Compressor
Electron optics:
Filament: Pre-centered tungsten hairpin type
Gun bias: Self-bias and stepless bias
Frame memory: 2560 x 1920 Pixels.
HITACHI S-3500N是一种广泛应用的高分辨率扫描电子显微镜(SEM),设计用于学术和行业研究的广泛应用。它具有许多特点,非常适合检查各种材料的微观结构,包括金属、聚合物、陶瓷和复合材料。S-3500N SEM的主要功能是生成分辨率高达2.5nm的曲面图像。SEM利用钨丝制造出聚焦在被分析样品上的电子束。然后通过电子探测器收集和检测反向散射或二次电子,在观察阶段扫描样品。SEM可用于将图像放大至30kx。HITACHI S-3500N还配备了能量色散X射线(EDS)探测器,可以对被分析样品进行元素分析。这种EDS探测器能够探测到范围广泛的元素,包括轻元素如硼和氯,以及重元素如铀和铅。然后使用元素分析信息创建元素图,使研究人员能够进一步了解材料。S-3500N还具有一系列自动化功能,例如自动聚焦控制和舞台倾斜校正,使用户能够快速获得清晰的图像。SEM还有一个自动柱头,可以进行精确和精确的成像。HITACHI S-3500N SEM的最佳功能是能够创建低噪声的极高分辨率图像。这使研究人员能够对所研究材料的微观结构获得有价值的见解。SEM还具有易于使用的用户友好界面。总之,S-3500N是一种强大的扫描电子显微镜,非常适合分析各种材料的微观结构。它配备了多项功能,包括自动聚焦和舞台倾斜校正系统、用于元素分析的能量色散X射线(EDS)检测器,以及用于精确成像的自动柱头。HITACHI S-3500N可以创建分辨率高达2.5 nm的图像,使其成为研究人员寻找详细结果的完美工具。
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