二手 HITACHI S-3600N #9314101 待售

HITACHI S-3600N是一种具有高性能成像能力的扫描电子显微镜（SEM）。它配备了肖特基电子倍增器（SEM）和波长色散X射线探测器，对表面特征和组成产生高分辨率和定量分析。S-3600N的工作距离高达50毫米，这为样品的观察和分析提供了极大的灵活性。0.1 kV至30 kV的高张力电压范围提供了优越的图像质量和检测限制,以便对甚至纳米尺度的特征进行详细分析。HITACHI S-3600N具有较大的样本量范围,可容纳直径可达300 mm的样本量。柱内能量滤波器最多可容纳10 μ s/通道停留时间，因此即使是极小的粒子也能被探测和观察到。S-3600N具有全方位的成像模式,可以对标准和复杂的表面特征进行成像。二次电子成像（SEI）、反向散射电子成像（BSEI）、反向散射电子衍射（BED）、X射线发射、电子束感应电流（EBIC）和电子束光谱（EBS）都可以用于标准的、非破坏性的表征。HITACHI S-3600N利用了一系列探测器，其中包括二次电子探测器、多个X射线探测器、能量滤波器和用于EBSD的阵列探测器。这些探测器提供了对表面特征如晶体结构和化学成分的定量分析。S-3600N的高真空室是低维护和产生低噪声和电子束轨迹稳定性的图像。内置的振动阻尼系统可降低图像的不稳定性,并提供高分辨率图像,而无需额外对齐。它具有EasyBeam镜头对准功能，允许用户快速准确地将电子束对准样品。HITACHI S-3600N通过大型10.4英寸明亮液晶显示器、一键式操纵杆控制和Ez-Navigation热键提供方便操作。它采用高速英特尔至强处理器和最先进的电子设备,可提供可靠可靠的操作。S-3600N提供了令人印象深刻的高级特性和成像能力的组合,使其成为材料科学研究中电子成像和表面分析的理想选择。该系统为高分辨率成像应用提供了强大而经济的解决方桉。