二手 HITACHI S-3700N #293797824 待售
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ID: 293797824
优质的: 2009
Scanning Electron Microscope (SEM)
OXFORD X-Max 80mm² EDX
2009 vintage.
HITACHI S-3700N是一种用于高分辨率亚微米成像的扫描电子显微镜(SEM)。它具有温度稳定和振动稳定的超高真空柱设计,非常适合微米级和亚微米级分辨率。该SEM利用经典的反向散射和二次电子检测器进行优化,以提供最大的图像对比度和图像分辨率。HITACHI S 3700 N利用数位影像处理能力,提供额外的影像对比度和色彩增强。S-3700N还设计了高加速电压,使其能够获得更高分辨率的图像,而不会损坏细腻样品。其高压成像能力,加上低噪声性能和先进的数字图像处理,使其能够捕捉到不同类型材料的高度详细的图像。S 3700 N还具有自动化的舞台选项,以简化获取地形的过程。此功能允许用户以较少的用户输入快速扫描样本的大面积区域。该系统还具有自动聚焦功能,使用户能够获得较小的生物或化学样本的图像,并具有较高的详细程度。HITACHI S-3700N还利用先进的成像技术,如扫描透射电子显微镜(STEM)在某些样品中提供额外的对比度。驻波显微镜也可用于精确测量样品内部的表面结构。同时对SEM和STEM进行成像,使用户能够快速轻松地获取同一样本的地形和组成图像。为了提供额外的便利功能,HITACHI S 3700 N配备了改进的性能摄像头,可同时捕捉暗场和明场图像。其高级软件提供用户友好的图形用户界面(GUI),以帮助组织和分析获取的数据。系统软件还能够自动化数据分析和处理,使用户能够高效率地分析样本。S-3700N广泛应用于故障分析、半导体器件分析、材料科学和生物研究等领域。凭借先进的成像能力和先进的软件,S3700 N是这些研究领域研究人员的理想工具。
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