二手 HITACHI S-3700N #9350985 待售

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ID: 9350985
优质的: 2013
Scanning Electron Microscope (SEM) SE Detector BSE Detector, 4-segments Low vacuum SE detector Camera navigation system IR Chamber scope ULVAC RP HITACHI Compressor MITSUBISHI ELECTRIC Color printer Display unit PC Cables Keyboard Mouse Monitor CD-R Flexible tube Rubber tube Manuals included Spare parts for EDX detector: EDAM Analyzer Display, 20" APOLLO X Silicon drift detector, 10 mm², 129 eV, B-AM Parallel beam WDX detector CANON iP7230 Printer Cable Keyboard Mouse Computer workstation Monitor CD-R 2013 vintage.
HITACHI S-3700N是一种高分辨率扫描电子显微镜(SEM),能够产生分辨率为0.5纳米的超细细节视觉图像。它使用强大的电子枪发射聚焦的电子束,扫描样品表面,产生高分辨率的电光图像。HITACHI S 3700 N配有多收集器计算机控制设备和各种软件包,以确保准确、清晰的图像。此SEM使用0.3mm聚焦孔径与可变压力(VP)级相结合的可变压力样本操作。可变压力级允许用户调整样品对电子束的暴露,以便观察不同深度和细节水平。S-3700N还能够进行二次电子成像(SEI)和镜头内检测(ILD)。SEI通过检测样品表面特征反射的电子,产生更高分辨率的表面细节图像。ILD产生小至10 nm的曲面特徵影像。S 3700 N配备了自动扫描控制系统,允许用户选择自己喜欢的扫描模式、放大倍率和曝光时间。根据用户的需要,此单元可以产生静态(固定)或动态(可调节)图像分辨率。SEM还包括一台自动聚焦机,最多可存储15个放大设置。HITACHI S-3700N需要高真空环境和温度控制环境才能有效地产生图像。其最大加速度电压30kV,能够产生尺寸在1mm至3mm之间的样品图像。此外,显微镜可以处理各种材料的有机和无机样品,包括金属和合金。HITACHI S 3700 N有多种图像分析软件包的选项,可用于测量角度、面积和距离。自动计数、自动模式识别和自动3D重建等功能进一步增强了显微镜进行详细分析的潜力。这些特征可以提供有关表面组成、结构和电子扩散的信息。总体而言,S-3700N是一个装备特殊的SEM,具有强大的电子束,多集计算机控制工具和各种图像分析软件。它可以产生尺寸在1mm到3mm之间的样品的高分辨率图像,并且能够分析角度、区域和距离,以及自动3D重建。这个SEM非常适合研究人员和专业人士寻找一个强大和可靠的扫描电子显微镜。
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