二手 HITACHI S-4160 #293586847 待售
网址复制成功!
单击可缩放












HITACHI S-4160是一种用于研究和工业应用的扫描电子显微镜(SEM)。该SEM集成了一个高度敏感的电子探测器,为用户提供更高分辨率的图像和改进的信噪比。该仪器还配备了自动图像缝合软件,使研究人员能够从众多低倍率图像中编译均匀图像。HITACHI S 4160配备了分析性SE探测器,允许在反向散射电子和特征X射线等其他信号之外捕获二次电子。该探测器对高能电子敏感,允许在低加速电压下捕获分辨率大于3 nm的图像。S-4160的EDS系统允许检测和量化所查看样本中的元素组成。它能够测量从硼到铀的元素,空间分辨率为1 μ m。这种电子显微镜能够在反向散射电子(BSE)模式下达到高达4 nm的分辨率,并拥有高达x 400 000的综合放大倍数。这使仪器能够以完全清晰和详细的方式捕捉图像。显微镜还能够收集各种信号,如二次电子和反向散射电子,这些信号可用于计算所观察样品的地形和元素信息。S 4160还配备了能量色散X射线分析光谱(EDX),可以对标本进行元素分析,增加分辨率为1 μ m。这一EDX系统与各种探测器兼容,从而能够更好地检测从硼到铀的各种元素。显微镜还能够产生低kV操作的图像,从而减少充电对被观察样品的不利影响。具体来说,样品可以低电平充电,从而确保更高的图像精度。此外,HITACHI S-4160还配备了一个高容量级,可以轻松查看更大的样本量。这对于大型样品特别有用,例如在工业应用中遇到的样品。此外,舞台可以很容易地在水平和垂直方向进行调整,以便进行精确的样品放置。HITACHI S 4160是一种强大的扫描电子显微镜(SEM),既适用于研究,也适用于工业应用。此SEM配备了高度灵敏的电子探测器、自动成像缝合软件、能量色散X射线分析光谱和高容量级,可轻松查看更大的样本量。该仪器的分辨率可达4 nm,放大倍数可达x 400,000,可为用户提供高分辨率图像,并提高信噪比。
还没有评论