二手 HITACHI S-4700 II #293605918 待售

ID: 293605918
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-4700 II是扫描电子显微镜(SEM)的模型.它是一种用于材料分析领域的高性能仪器。HITACHI S 4700 II提供了多种功能,使其非常适合各种应用,如样品观测、表面成分分析、元素分析和成像。S-4700-II有一个可变压力室,允许它在高真空或可变压力下进行SEM成像,允许用户检查仪器上的湿样或松散样品。它还具有Peltier元件冷却阶段,温度范围从-80˚C到100˚C.这样就可以在不同温度下获取样品的图像,而不必将其转移到另一个阶段。该仪器还具有用于高分辨率成像和元素分析的高分辨率探测器。其次级(低真空)电子探测器具有大视野,非常适合大面积成像和元素分析。S 4700-II拥有高精度的电机系统,可提供令人印象深刻的稳定性和准确性,从而能够以尽可能高的分辨率捕获图像。它配备了一系列自动化的舞台和功能,允许用户快速设置仪器,轻松进行分析。该仪器配有一系列软件工具,便于样品观察和分析。除了标准扫描模式外,S 4700 II还提供各种高级功能,例如用于元素分析的能量色散X射线光谱(EDS)、用于低Z元素成像的反向散射电子成像(BSEI)以及用于透镜和透镜SE成像以提高图像分辨率。总之,HITACHI S 4700-II是一种先进的扫描电子显微镜,具有多种特性和功能,非常适合材料分析中的一系列应用。它具有可变压力室和Peltier元件冷却阶段,以及高分辨率探测器和软件工具,便于样品观测和分析。仪器配备高精度电机系统,提供出色的稳定性和精度。它是研究人员和科学家寻找一种能够提供高质量图像和可靠数据的精密仪器的理想选择。
还没有评论