二手 HITACHI S-4700 II #293814500 待售

ID: 293814500
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) EDAX detecting unit Stage control Trackball control ExB filter Critical Dimension (CD) measurement system Operating System (OS): Windows Column-mounted turbomolecular pump.
HITACHI S-4700 II是为高级显微镜应用而设计的高性能扫描电子显微镜(SEM)。显微镜的主要特点包括集成图像捕捉设备、优越的能量分辨率、高达3000 ×的高分辨率成像、宽磁场、高压光学、高分辨率成像的高压指数(HVI)能力以及独特的视觉外形设计(VFD)检测器。此外,Visual Form Design与创新的"Nanowise"系统的结合优化了显微镜的成像能力。HITACHI S 4700 II的集成图像捕获单元提供高分辨率图像和强大的图像处理功能。它利用电子探测器和视觉形状设计探测器两种类型的探测器。电子检测器是精细结构成像的理想选择,而视觉形状设计检测器则允许大型结构的可视化。使用高压光学器件,可以获得更高分辨率的图像。宽磁场的视场使用户可以查看更大的区域。S-4700-II的高压指数(HVI)功能可提供高达3000 ×的高分辨率成像。这使用户能够观察和区分样本中最小的细节。有了这个功能,用户可以调整不同样品的电压和电流设置,获得最佳效果。"Nanowise"机通过提供先进的图像分析能力,进一步增强了显微镜的成像能力。S 4700-II采用独特且用户友好的Visual Form Design (VFD)检测器,具有直观的显示屏,用户可以轻松地从电子检测器切换到VFD。VFD检测器处理和增强图像,使用户更容易解释图像。此外,VFD的高级处理功能可减少图像噪声,从而使图像可以更清晰地查看。总之,HITACHI S-4700-II是一种先进的扫描电子显微镜,专为先进的显微镜应用而设计。它集成了图像捕捉工具、卓越的能量分辨率、高达3000 ×的高分辨率成像、宽磁场、高压光学、高分辨率成像的高压指数(HVI)功能以及独特的视觉外形设计(VFD)检测器。此外,Visual Form Design与Nanowise资产的结合增强了显微镜的成像能力。HITACHI S 4700-II提供出色的性能,使其成为各领域科学家和研究人员的理想选择。
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