二手 HITACHI S-4700 Type II #293602528 待售

ID: 293602528
优质的: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM) Secondary electron resolution: 2.1 nm at 1 kV 1.5 nm at 15 kV and WD: 12 mm or X-ray analysis position Backscattered electron resolution: 3.0 nm at 15 kV with YAG detector Magnification: LM: 20-2,000x HM: 100-800,000x Specimen stage: X-Axis: 0-100 mm Y-Axis: 0-50 mm Z-Axis: 1.5-30 mm Tilt: -5 - +60° R: 360° Trackball operation 5-Axis motorization Vacuum: Diffusion pump 2001 vintage.
HITACHI S-4700 Type II是一种提供高分辨率成像的扫描电子显微镜(SEM)。此特定产品面向对各种电子材料(例如半导体、微型设备、电路板等)成像感兴趣的用户。这种显微镜使研究人员能够以更高的分辨率观察到比以往更多的细节。它利用一次和二次电子检测,允许精确的图像,即使在非常小的规模。HITACHI S 4700 TYPE II是一款包含风冷电子源的台式机SEM,有助于维护一致成像,费力不大。显微镜的最大放大倍率高达2000倍,这导致图像中的细节极为精细。这台显微镜还具有多种旨在使成像过程更加平滑的功能,如低能反向散射电子探测器、高分辨率单色仪和机器人样品支架设备。S-4700 II型能够分析各种材料,无论样品的厚度或表面拓扑。这个模型对需要分析任何厚度小于一微米的材料的研究人员是有利的。显微镜配备了多种传感器和特点,如线扫描电子枪、25平面级系统、铬涂层单元、广角反向散射电子探测器和5轴操纵器。除了成像能力外,S 4700 TYPE II还能够分析化学成分和电气特性。内置光谱仪可用于获取化学成分信息,二次电子探测机能够以比以往更高的分辨率获取详细图像。显微镜还包括分析表面电位的能力,使得HITACHI S-4700 Type II成为研究表面相关现象的有力工具。最后,HITACHI S 4700 TYPE II可以从几乎任何地方进行远程配置和控制,使其适合远程监控。这使得它成为那些需要保持对SEM控制的人的理想选择,即使他们远离实验室。S-4700第二类是一种先进的工具,旨在满足那些需要小规模研究材料和物体的人的需要。它的特性和功能使其成为一种强大的工具,可在不牺牲准确性或质量的前提下,用于成像材料和获取有用的信息。
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