二手 HITACHI S-4700 Type II #9234231 待售

ID: 9234231
Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (CFE-SEM) Resolution: 2.1 nm at 1 kV Image mode: Secondary electron image (2) Secondary electron detectors OXFORD EDS Included.
HITACHI S-4700 Type II是一种扫描电子显微镜(SEM),提供卓越的成像能力,具有广泛的分析功能。是科研、工业、实验室应用的绝佳选择。该设备配备了200kV钨丝枪,具有大深度的野外探测器,可以对各种样品进行详细分析。高分辨率加上能够对厚实样品成像,使得HITACHI S 4700 TYPE II非常适合成像和分析各种材料,包括金属、陶瓷和有机物。S-4700 Type II采用了最先进的数字成像系统,能够存储大量图像以及合并、过滤、视频录制和缝合图像等功能。它还具有智能搜索功能,可快速检索保存的图像。除了高分辨率彩色显示器和用户友好的触摸屏界面外,S 4700 TYPE II还提供了简单直观的高质量成像效果。该单元还包括一些分析技术,包括X射线能量色散光谱(EDS)和二次电子(SE)成像,以提供关于样品的综合元素和化学信息。执行实时成像和动态图像优化的能力确保了最佳图像质量。除了标准的成像能力外,HITACHI S-4700 Type II配备了一个高吞吐量的自动化阶段,可以一次处理多个样本。舞台可以在样品之间快速移动,自动调整SEM电流和放大设置,产生精确干净的图像。HITACHI S 4700 TYPE II的一个主要优点是其Portavis离子柱,它提供了优于其他SEM的离子束沉积精度和质量。该机器还与自动晶片卡盘兼容,该卡盘设计用于确保半导体分析过程中的完美平整度、提高精度和可重复性。最后,真空工具、He/Ar气体溷合物和低温阶段都是S-4700 Type II中包含的标准特征,为用户准备样品提供了多种选择。总体而言,S 4700 TYPE II是任何需要卓越成像功能、自动化样品处理和可靠分析功能的应用程序的绝佳选择。HITACHI S-4700 Type II具有广泛的特性和功能,能够为各种材料提供可靠和准确的结果。
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