二手 HITACHI S-4700 Type II #9299922 待售

ID: 9299922
晶圆大小: 12"
优质的: 2003
Scanning Electron Microscope (SEM), 12" Process: FE SEM with horriba EMAX EDX 2003 vintage.
HITACHI S-4700 II型扫描电子显微镜(SEM)是一种强大的研究仪器,用于在非常高的放大倍率下分析物体的微观结构。显微镜产生的图像种类繁多,从表面地形到样品的内部结构,可以对其组成和性质进行深入分析。显微镜还提供了广泛的辅助和分析电子。使用二次电子探测器,可以在非常高的放大倍率下了解表面特征。另一方面,分析仪探测器允许用户检测样品中的光和化学元素。此外,能量色散光谱(EDS)设置进行X射线分析。显微镜配备了高灵敏度和精细分辨率的二次电子探测器,可检测,并显示一系列信息。高分辨率数码相机可以让用户快速高效地捕捉图像。HITACHI S 4700 TYPE II SEM包括全机动化、高真空能力的TGT(Target Gas Injection)设备。这一特征产生了一个更大的束,从而减少了束的发散和更紧密的电子束聚焦。仪器的光学系统能够产生高达27mm的成像场,支持高达1840 x的放大倍数。此外,显微镜经过设计,提供了一个稳定和准确的工作面。为此,在采样阶段采用了柔和的曲线和小锥度。XYZ扫描仪、激光干涉仪级和电动装置使用户能够精确设置测量值。软件中用户友好的控制界面允许用户快速、轻松地访问SEM的参数。同时,扫描周期、扫描数据和扫描区域设置都可以立即更改。这台机器使配置成像参数和观察结果变得简单。S-4700 II型 SEM的表面探测器还提供了所有3个维度的数据,可用于精确测量地形特征。此外,将视觉或图形掩码与位置适配器(PA)结合使用的可能性使用户能够执行特定于区域或线性的分析。总体而言,S 4700 TYPE II SEM是一种高级研究工具,可提供多种成像功能。凭借其快速的视觉反馈和高效的操作,显微镜适用于生物学、材料科学、半导体技术等领域的研究。
还没有评论