二手 HITACHI S-4700 #9241883 待售

ID: 9241883
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 1.5 nm with 15 kV beam, 12 mm working distance 2.1 nm with 1 kV beam, 1.5 mm working distance Magnification: High mag mode: 100x - 500,000x Low mag mode: 20x - 2,000x Electron optics: Electron gun: Cold cathode field emission type Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV Lens: 3-Stage electromagnetic lens Objective lens aperture: Movable aperture Self-cleaning thin aperture Astigmatism correction coil (stigmator): Electromagnetic type Scanning coil: 2-Stage electromagnetic deflection type Specimen stage: X Range: 0 to 25 mm Y Range: 0 to 25 mm Z Range: 1.5 to 26.5 mm Tilt range: -5 to 45 degrees Rotation: 360 degrees Spec. size: Maximum100 mm diameter Display options: Scanning speeds: Live viewing: 0.5 to 40 sec per frame Photo: 17 - 333 seconds per frame Electrical image shift: 15 um at 12 mm Evacuation system: Ultimate vacuum levels Specimen chamber: 7E^-4 Pa Electron gun chamber: 2E^-7 Pa at ion pump 1 Vacuum pumps: Electron optics: (3) Ion pumps Specimen chamber: Oil diffusion pump or turbo molecular pump (2) Oil rotary pumps Acoustic noise: Less than 65 dB Dielectric voltage-withstand: 1500 VAC/1 min Microscope control OS: Windows XP Does not include EDAX.
HITACHI S-4700是一种扫描电子显微镜(SEM),用于可视化纳米级物体和材料。它提供具有无与伦比的图像清晰度的高分辨率图像,与传统的实验室光学显微镜相当,不需要应用造影剂。SEM在两种模式下运作:扫描模式和点模式。在扫描模式下,电子枪发射出均匀的电子束,并通过一系列电磁透镜聚焦在样品上。当光束扫描样品时,电子被反向散射收集,然后在电子探测器中被检测到。这允许以超高分辨率形成样品的数字图像。Point Mode SEM产生一个紧密聚焦的电子束,可用于定位和分析样品上各个感兴趣的区域,并生成目前特征的极高分辨率图像。这使用户能够对尺寸、形状和其他特性进行精确的测量。HITACHI S 4700还具有各种探测器配置和先进的成像方法,使用户能够观察到种类繁多的材料及其特性。SEM的内置分析能力包括电子能量损失光谱(EELS)和能量色散X射线光谱(EDS)。使用EELS,用户可以利用来自加速电压的散射电子来测量电子的能量损失,并识别构成样品的原子。利用EDS,从样品发出X射线,提供样品组成的元素信息。S-4700与所有HITACHI成像系统无缝配合使用,使用户能够快速轻松地执行成像、分析和数据处理。控制器和软件提供自动化操作,使用户能够快速识别、测量和分析样本上的特征并导出结果。S 4700是从事纳米技术、材料科学、生命科学领域研究实验室的理想工具;以及产生高度精确的纳米级图像和数据。
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