二手 HITACHI S-4700 #9245498 待售

ID: 9245498
Scanning Electron Microscope (SEM) BRUKER XFlash 6I30 Video monitor (3) Dry pumps Air compressor BURKER Signal processing unit DELL PC Miscellaneous cables Manuals included Control table missing.
HITACHI S-4700扫描电子显微镜(SEM)是一种高性能的电子显微镜模型,能够以纳米尺度检测样品的质量和表面。作为SEM的HITACHI顶级型号之一,HITACHI S 4700为需要高分辨率、高性能显微镜的研究人员、生产商和制造商提供了多种功能。该仪器提供了多种图像捕捉技术,最显着的是它的二次电子成像模式,它提供了纳米尺度的粒子、粒子簇和纤维。这一特征得到了SNMS(二次中性质谱)技术的帮助,允许从几乎任何样本中生成化学信息。SEM模式(High Angle Angle Anlular Dark Field SEM)允许分析在低加速电压下具有纳米级横向分辨率和高检测效率的物体,这得益于超高压探测器。此外,S-4700允许通过其EDX(能源色散X射线分析)功能对各种元素进行分析。结合其定制设计的X射线探测器,有助于生成准确的数据,提高样品检验效率。S 4700还提供各种自动化功能,以简化样品工作流程,如自动胶片尺寸识别、舞台漂移预防和Z-shift补偿。此外,HITACHI S-4700具备一系列先进的硬件、软件和成像设备功能,使研究人员能够分析几乎任何表面或样本。此外,该车型还有自己内置的样品制备系统;一种有助于准备成像标本的特征。其他样品制备特征包括冷冻-SEM用液氮的持有人和液体样品用湿式标本细胞,以获得预冻图像。结合这些独特的功能,该型号具有直观的控制单元和触摸屏,用户可以轻松直观地操作该单元。此外,HITACHI S 4700还集成了一种新颖的X-Y导航机器,它将2D和3D导航集成在一个单元中。这增加了模型的灵活性,允许用户将相同的SEM用于2D或3D成像作业。总体而言,S-4700为用户提供了多种创新解决方桉,并且在扫描电子显微镜方面处于行业领先地位。它能够将速度、准确性和精确度结合起来,成为材料科学、质量控制和实验室工作的宝贵工具。S4700具有易用性和先进的成像功能,并结合了通用的扫描模式,是需要高性能SEM的项目的理想工具。
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