二手 HITACHI S-5200 #293778227 待售

ID: 293778227
Scanning Electron Microscope (SEM) Electron source: Cold-FEG Acceleration voltage: 500 V to 30 kV Guaranteed resolution: 0.5 nm to 30 kV Magnification range: LM 60x to 10000x HM 800x to 2000000x (2) Detectors: SE T-BSE Stage: X: ±3.5 mm Y: ±2 mm Z: ±0.3 mm Tilt: ±40° Specimen: Flat: 5 x 9.5 x 3.5 x 4 x 9 x 4 mm Phase: 2 x 8 x 5 mm.
HITACHI S-5200是一种扫描电子显微镜(SEM),用于提供对固体物体表面的高分辨率成像和分析。它是一种电子显微镜,使用聚焦的电子束,以产生它正在成像和分析的物体的图像。HITACHI S 5200是一款高性能扫描电子显微镜,配备了创新设计,使操作和维护更加方便。SEM的工作原理是使用电子源将电子聚焦到样品表面。电子束以类似光栅的模式在整个表面扫描,与样品相互作用的电子被检测出来,并以图像的形式记录下来。S-5200具有高达5纳米的高分辨率,非常适合检查小颗粒表面和分析样品表面的精细细节。显微镜可以在二次电子成像模式或反向散射电子成像模式下操作。在二次电子成像模式下,电子在与样品相互作用后以浅角度分散,通过检测二次电子撞击检测器而产生图像。反向散射电子成像模式通过检测从样品散射到探测器的电子,形成样品的轮廓图像。S 5200还为用户提供各种先进的镜头和探测器。SEM中有两种不同的探测器;Everhart-Thornley探测器和镜头内探测器。Everhart-Thornley探测器能够检测样品中的二次电子和反向散射电子。透镜内检测器能够检测样品中的非弹性散射电子。HITACHI S-5200具有一个真空室,用于创建必要的微真空环境,使电子束不受任何干扰地展开。腔室设计为以1x10-6 Pa的最低压力运行,确保样品不受任何外部污染。该室配备了几个端口,用于疏散任何残留气体,并允许为SEM安装各种配件。HITACHI S 5200是进行详细和高分辨率SEM成像和分析的绝佳仪器。其创新的设计和用户友好的操作系统使其非常适合各种高级研究应用。
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