二手 HITACHI S-570 #293592480 待售
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ID: 293592480
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution: 2.5 nm
Magnification: 20 to 100,000x, 12-100,000x
Filament: Pre-centered LaB6
Maximum beam current: 300 µA
Auto bias
Alignment: 2-Stage electromagnetic alignment
Lens: 3-Stage electromagnetic lenses
Stigmator coil: Electromagnetic type
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic type
Objective: Movable aperture
Maximum specimen size: 150 mm
Specimen stub size: 6 mm
Ultra high resolution: 50 mm
Specimen exchange: Air leak
Motion range (Large stages):
X: 0-40 mm, 0-100 mm
Y: 0-40 mm, 0-50 mm
Z: 5-35 mm, 20-60 mm
Tilt: -20°-+90°, 0°-60°
Rotation: 360°
Power supply: 0.5-3 kV, 100 V / 3-30 kV, 1 kV.
HITACHI S-570扫描电子显微镜(SEM)提供卓越的性能和先进的功能,以支持广泛的材料科学研究应用。HITACHI S 570提供了同类产品中最高的分辨率,在30毫米工作距离时提供1.2 nm的分辨率,在6毫米工作距离时提供低至0.8 nm的分辨率。这种能力使得能够对单个原子和分子进行成像,并允许研究和表征新材料和纳米结构。S-570扫描电子显微镜还提供了各种各样的探测器配置。这些包括二次电子探测器、反向散射电子探测器,以及包括EDX、EBSD和SDD探测器在内的多种取样系统。因此,S 570非常适合多学科应用,从纳米材料的成像和分析到生命科学研究。HITACHI S-570得益于先进的电子光学柱设计。这包括先进的污染控制,这是实现高水平成像分辨率的关键。此外,柱的机械设计确保SEM在运行过程中保持完全稳定的位置,而不会出现漂移或振动,这对于要求高精度的SEM应用至关重要。HITACHI S 570被设计成一种灵活且方便用户的仪器。其特点包括图像分析能力、4种电子枪配置和可编程放大控制,在常规和高级SEM成像应用中均可实现高生产率。它还包括高级用户控制的漂移校正。这对于准确和快速获取图像非常重要,因此减少了扫描所需的时间。S-570与一系列自动化和运动控制系统完全兼容,可以快速轻松地设置复杂的SEM成像任务。此外,开放式平台允许与各种成像系统和自动化软件轻松集成,从而增强了可用成像应用程序的范围。最后,S 570旨在以具有竞争力的价格提供卓越的性能。这使得HITACHI S-570任何需要高分辨率成像和分析的材料科学应用的理想选择。
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