二手 HITACHI S-7000 #76295 待售
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ID: 76295
晶圆大小: 4"-6"
优质的: 1991
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 4"-6"
Secondary electron image resolution: 15 nm, 1 kV (150 angstroms)
Magnification: 100x to 100,000x
CD Measurement range: 0.05-100 microns
Electron beam source: Field emission electron gun
Lens system: 2-Stage electromagnetic lens reduction
Auto loader: Single cassette, random accessing
Objective lens aperture: Movable aperture (4 openings selectable / Alignable outside column)
Stigmator: 8 pole electromagnetic type (X,Y)
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic type
Specimen stage movement:
X-direction: 150 nm
Y-direction: 150 nm
Z-direction working distance: 5-15 mm
T-tilt angle: 0° to 60°
R-rotation angle: 360°
Accelerating voltage: 0.7~3 kV
Emission extracting voltage V1: 0~6.3 kV
1991 vintage.
HITACHI S-7000扫描电子显微镜（SEM）是最先进的科学仪器之一。S-7000是一种高度精确的工具,用于研究各种环境中的样品,并提供纳米级（分辨率小于1微米）的详细图像。为了产生可靠的图像，SEM使用电子束和几个元件进行检测、聚焦和成像。高压电源可以将电子束加速到30 KV,从而可以在低放大倍数到高放大倍数范围内进行分析。然后一个冷凝器透镜将电子束聚焦到样品上，可以用检测器检测反向散射的电子进行地形成像。探测器还允许通过检测X射线光谱仪的信号来进行元素映射。为了获得最高的精确度和准确性，HITACHI S-7000利用完全计算机化的设备进行软件和硬件控制。它旨在在各种操作条件下生成准确的图像,并保持最高级别的图像清晰度。此外,由于S-7000先进的电动控制系统,SEM能够在不需要手动调整的情况下一致运行。HITACHI S-7000还具有一个集成的"样品处理"系统,该系统允许通过自动化单元安全、轻松地翻译、旋转或操作样品。换句话说，S-7000消除了人工处理标本的需要，这大大降低了污染或标本在成像过程中受损的风险。此外,HITACHI S-7000还能够根据示例类型和操作参数生成各种变量。这意味着此SEM的功能在不同条件下具有很高的适应性和可靠性。总体而言，S-7000是微结构和纳米样品分析的宝贵工具。HITACHI S-7000具有广泛的操作灵活性、精确的成像功能和自动化的样品处理机,是一种出色的样本成像工具。
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