二手 HITACHI S-7000 #9282901 待售
网址复制成功！
单击可缩放
ID: 9282901
晶圆大小: 4"-6"
优质的: 1989
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 4"-6"
Secondary electron image resolution: 15 nm (150 angstroms) at 1 kV
Magnification: 100x to 100,000x
CD Measurement Range: 15 Å (15 nm)
Re-producibility: ± 0.02 µm / ±1%
Electron beam source: Field emission electron gun
Accelerating voltage: 0.7-3 kV (100 V/Step)
Measurement range: 0.1- 200 µm
Auto-focus and auto-stigmation
Automated CD measurement
Multi point measurement capability
Programmable stage: Up to 60° Tilt
1989 vintage.
HITACHI S-7000扫描电子显微镜（SEM）是一种多用途、功能强大的科学家和工程师成像工具。它具有三纳米的分辨率，放大倍数达到10万倍的能力。S-7000 SEM提供高速图像采集和各种成像功能。HITACHI S-7000利用正在观察的电子和目标材料之间的相互作用来产生图像。入射电子在与样品相互作用之前经过一系列透镜。这种相互作用产生了一系列二次电子和反向散射电子，这些电子可以用来创建样品的图像。通过其扫描系统,S-7000允许用户调查大的表面积,或仔细查看细微的细节。HITACHI S-7000包括手动和计算机控制的示例操纵器。这允许用户在检测器视场中轻松移动、旋转和倾斜样品。通过选择镜头,用户可以选择其应用程序的最佳成像设置。S-7000 SEM配备了先进的定量图像分析系统,使用户能够更准确地测量样品的大小和形状。这一特性使得HITACHI S-7000特别适合于形态学研究和测量。S-7000 SEM还提供一系列高性能探测器,允许用户根据需要捕获X射线、EDS、EELS、CL和BSE图像。SEM包括一个用于样品安装的平台以及一个易于拆卸和更换的原位真空室。总体而言，HITACHI S-7000是任何需要高度可靠、精确和通用的扫描电子显微镜的研究项目或环境的绝佳选择。S-7000具有高分辨率成像、先进成像能力和广泛的定量成像分析功能,是任何背景的科学家和工程师的理想选择。
还没有评论