二手 HITACHI S-806 #293634215 待售
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ID: 293634215
Field Emission Scanning Electron Microscopes (FE-SEM)
Maximum specimen size, 6"
Secondary electron image
Resolution: 6 nm (60 A) - 25 kV
Magnification: 50x - 100,000x
Manual loader, 6"
(3) Ion pumps
Stage controller
Detecter
Turbomolecular pump
Keyboard
Display Unit
Specimen stage:
Movement range:
X and Y: 0 to 150 mm
Stage drive: Pulse motor control
Joystick control (Auto eucentric)
Z (WD): 5 - 35 mm
Rotation: 360°
Tilt: 0 - 60°
Electron optics:
Electron gun: Cold field emission type
Accelerating voltage: 0.5 - 5 kV (variable in 0.1 kV step) / 5 - 25 kV (variable in 1 kV step)
Emission extracting voltage: 0 - 6.3 kV
Lens system: 2-stage electromagnetic lens
Objective aperture: click-stop type 4 openings, alignable outside column, self-cleaning type thin aperture
Scanning coil: 2-stage electromagnetic type
Stigmator: 8-pole electromagnetic type (X, Y)
Control and display system:
Scanning modes
Viewing CRT
Digital image registration computer system.
HITACHI S-806扫描电子显微镜（SEM）是一种多模式、高性能的SEM,能够以纳米级分辨率的高放大倍率查看样品。HITACHI S806能够产生二次电子、反向散射电子和俄歇电子图像，以及X射线光谱、化学态图和其他元素表征数据。S 806以野战发射枪（FEG）源为特色，提供极佳的光束稳定性和最小化因气体条件而产生的变化，允许更高的精度和测量结果。FEG源具有高达30 kV的0.5的可变加速电压，工作范围为1-25 kV。为了最大限度地提高样品的观看和成像能力,HITACHI S 806配备了各种用于调整扫描大小、分辨率、放大倍率和对比度的命令。SEM样品室足够大，可用于100 x 100 mm的样品，并且有一个环境室可用于控制大气和压力。S806还使用像素大小为5 x 5微米的12位SEM成像检测器来产生高细节水平的图像。为了确保精确的结果，S-806能够将各种探测器与SEM系统集成在一起。这些探测器包括功率光谱仪、复合材料复合分析和半定量分析的探测器，以及确定样品高度的光学探测器。HITACHI S-806可以与传统的立体显微镜配合使用来捕捉3 D图像。它还支持各种自动化的舞台选项，以简化样品加载、定位和测量。总体而言，HITACHI S806扫描电子显微镜的先进特性使其成为纳米级成像和表征的理想选择。其通用、精确的功能、FEG源、自动化的舞台支持以及各种检测系统，使得在广泛的科学应用中都能获得准确的结果。
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