二手 HITACHI S-8820 #9266234 待售
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ID: 9266234
晶圆大小: 8"
优质的: 1997
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 8"
Magnification: 1,000x to 150,000x
Depth of focus: >= 1.0 mm @ 80,000x Magnification
Resolution: 5 nm @ 800 V on CRT
Optical microscope: Monochrome CCD camera
Fixed mag: 110x, Workstation
Computer: HP / HEWLETT-PACKARD 715-64 (Later model)
Multipoint measurement function
Edge roughness function
Contact hole measurement function
Automated image archiving function
LEYBOLD 50 Turbo on load-lock
LEYBOLD 340 Turbo on main chamber
Power supply: 100 V AC, 50 Amp
1997 vintage.
HITACHI S-8820扫描电子显微镜(SEM)是一种高端、标杆模型,用于世界各地的各种科研领域。显微镜利用野外发射枪(FEG)与先进的检测系统相结合,以1,000至300,000X的放大倍率获得样品的高分辨率图像。SEMs,如HITACHI S 8820,在从医学到材料科学的各种领域,对标本表面提供了丰富的地形和化学分析。仪器的FEG对图像的精度和精度至关重要。FEG发射窄电子束,束的直径与束的电压成反比。电子束的直径也决定了图像的分辨率;较小的光束直径可实现较高分辨率的图像。S-8820的FEG在3KV、5KV、10KV和"高真空"1KV模式下运行,提供对电子束的优越控制。S 8820扫描电子显微镜采用了先进的检测系统来获得最佳的图像质量。各种探测器一起从样品、体积或表面捕获反射电子,提供了比传统光学显微镜更多的数据。HITACHI S-8820提供了一个SE信号检测器,它以高精度测量电子反射信号的数量,以及一个用于改进元素和表面特征分析的BackSpectrist Electron Detector(BSD)和一个具有深度轮廓成像连续可变电压的Secondary Electron Detector(SED)。HITACHI S 8820扫描电子显微镜包含一个二次电子成像模式,提供了一个样品的构成和结构的深度观察,而不需要样品准备,这种操作模式允许对多孔、纤维和不规则标本的快速成像。此外,S-8820还具有环境SEM (ESEM)模式,无需表面制备或表面涂层,即可用于对水合材料或软材料进行成像。此模式允许用户在其本机条件下捕获对象,从而获得更准确的结果。S 8820的灵活性和范围使其能够无缝集成到任何实验室环境中。显微镜的用户友好型设计和自动化功能使科学家能够自由地以任何最有利于他们项目的方式进行研究。最先进的断层扫描和3D成像功能允许进行无与伦比的结构和质量分析。HITACHI S-8820与高功率的分辨率和易于使用的用户界面配合使用,为科学家提供了一种用于专业研究的宝贵工具。
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