二手 HITACHI S-9220 #9041829 待售

HITACHI S-9220
ID: 9041829
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) Type: SMIF.
HITACHI S-9220是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于在紧凑的封装中提供高质量的成像和特征检测。这种扫描电子显微镜是专门为纳米级成像和特征检测而设计的,是一种可靠准确的工具。它能够在纳米级提供高质量、敏感的地形和元素特征成像。HITACHI S9220在5kV时的分辨率为0.6nm,在扫描模式下放大倍数为50,000倍。标本尺寸直径约12mm,允许更大的样品和标本进行更大细节的成像。操作方面,S 9220拥有集成的自动化扫描设备,用于更快、更精确的扫描。为了多功能性,它既有反向散射电子和二次电子成像,也有单点和多点停止检测。在成像方面,S-9220包含多种成像能力,如反向散射电子(BE)检测器、二次电子(SE)检测器和多点停止检测。SE探测器以较高的分辨率提供较轻元素的清晰图像,而BE探测器提供地形信息以更好地了解样品的表面结构。多点停止检测允许精确定位纳米尺寸的特征。此外,HITACHI S 9220还具有集成的电动扫描系统,可更快、更精确地进行扫描。S9220还能够成像非导电样品,如聚合物,因为它的现场发射源技术。它有一个聚焦柱二次电子探测器,可以更好的空间分辨率和改进的小特征成像。HITACHI S-9220还有一个自动化的样品制备环境,允许立即准备批量样品。自动化的特征映射技术使得精确检测和绘制特征变得容易,有利于质量控制应用。最后,HITACHI S9220具有用户友好的界面和直观的控件,使新手和经验丰富的操作员都能轻松使用。此外,显微镜的安装单元中还有各种配件可用于各种实验,如低真空适配器、高真空适配器、旋转级、倾斜级、能量选择器和光学视频机。这些附件提供了在各种条件下进行实验和准确分析结果的灵活性。
还没有评论