二手 HITACHI S-9380 II #9241982 待售
网址复制成功!
ID: 9241982
晶圆大小: 12"
优质的: 2004
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM), 12"
2004 vintage.
HITACHI S-9380 II是一种扫描电子显微镜(SEM),旨在为用户提供先进的成像能力,使他们能够更详细地可视化和分析复杂的样品结构。该系统配备了高性能、大面积的现场排放源(FES),以确保最高分辨率的成像,同时为各种应用提供广泛的成像和分析技术。它能够实现低至亚纳米尺度、大于2 nm的分辨率,并具有高速图像处理和数据采集功能。它非常适合许多成像应用,如先进的半导体故障分析、金相、过程监测、污染物检查和故障分析。SEM配备了全方位的自动化样品和舞台控制选项。这包括具有低漂移的高精度XY级、改进的精度和可重复性特征以及创新的采样室设计。双模采样相机自动化除了控制角度采样外,还提供高速聚焦和导航到腔室内任何位置。控制软件具有直观的命令和图像处理工具,便于使用和设置。SEM还配备了X射线能量色散光谱(EDS)和能量过滤成像(EFI)等先进检测系统,以提供低噪声和增强污染检测能力的锐细图像。标本架设计用于容纳包括液体和真空标本在内的各种样品,有多个标本架和选项可供选择。它包括一个电子束枪,它提供了一个入射束角度调整,以最大的灵活性在检测感兴趣的区域。试样平台也可配置用于倾斜和旋转测量。在成像方面,HITACHI S9380 II配备了一个高分辨率、低噪声的摄像头,可捕捉到高达0.2 nm的细节。通过更快的数据传输,可以快速保存图像,从而加快用户之间的数据共享。相机还提供了广泛的视频模式选择,允许对图样或图像质量进行可靠的分析。此外,S-9380-II系统还经常用于具有自动光谱分析、粒子识别和光谱迭加等分析特征的高灵敏度元素分析。总体而言,S-9380 II是一种功能强大的扫描电子显微镜,可提供高级成像和分析功能。它为用户提供了可视化和分析复杂结构到亚纳米尺度的能力。高精度的样本和舞台控制、直观的控制软件以及先进的检测系统为用户提供了一系列应用所需的灵活性和准确性。
还没有评论