二手 HITACHI S-9380 II #9251047 待售
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ID: 9251047
优质的: 2004
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)
2004 vintage.
HITACHI S-9380 II是一种扫描电子显微镜（SEM），由细丝和微柱并联组成的电子枪。这款SEM配备了场发射枪（FEG），提供了更好、更可靠的电子源。FEG具有照明面积小、柱长短、电子束散度极低、分辨率高、通量高的特点。HITACHI S9380 II能够测量直径最大为20毫米的样品，并具有较大的样品室，便于样品在各种位置装卸。最大放大倍数可达3,000,000X,可以扫描任何方向的样本。它有一个大端口和一个用于SE/BSE和离子束的小端口。此外，S-9380-II还具有低振动标本级和高稳定性数字控制设备，用于准确、可重复地控制标本级运动。为了保持电子束的正确对准，S-9380 II要求在操作过程中进行较低的样品维护，其新开发的控制软件用于自动调节roda波形的功能。除了其自动功能外，菱形碳膜（COPI）涂层型野外发射枪允许在变化的加速度电压下具有极高的分辨率。HITACHI S 9380 II的放大能力和先进的电子光学使研究人员能够在一个系统中测量范围广泛的样品。不仅S 9380 II能够在纳米水平下检测细节，而且还提供了高精度测量表面积的能力。它具有电子束高精度对准所带来的卓越表面映射能力，并聚焦于表面以创建纳米比例尺分辨率图像映射。S9380 II还具有一个小型X/Y移动单元,可以扫描不均匀的样品,同时保持高分辨率。这意味着它对于故障分析和微结构检查等应用来说是一个非常有用的工具。最后，这台机器与选择性区域电子照射兼容，对样品周围区域不造成降解，以便对样品进行修饰。总之，HITACHI S-9380-II是一种使用FEG电子枪的高度先进的扫描电子显微镜，能够对各种样品进行详细的纳米测量。其先进的成像和电子光学为研究人员提供了除了测量和绘制样品表面积之外，还能准确诊断样品上的缺陷和结构特征的能力。X/Y工具和选择性区域电子辐射资产对样品进行了详细的检查和修改，进一步扩大了HITACHI S-9380 II的能力。
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