二手 HITACHI S9380-2 #9351431 待售

HITACHI S9380-2是一种扫描电子显微镜（SEM），使用户能够以亚像素分辨率观察样品的结构。它支持在高真空以及低压力和高压力下的观测。此外,强大的成像设备可以获取高对比度的SEM图像。该SEM采用二次电子探测器肖特基发射电子探测器进行更详细的成像.此外，该探测器安装在校正高效低能电子探测器（CHELEX）支架中，从而产生高耐久性和可靠的成像。它配备了动态聚焦技术,使获取高分辨率图像更容易、更快。S9380-2系统为更高的信号处理和分析提供了多种功能。其中包括电动采样台、光束电流和宽度自动控制、可变光束调节等。先进的视频处理单元和用户友好的功能有助于在更短的时间内实现更高质量的图像。光谱X射线分析采集和测量允许用户在使用能量色散X射线光谱仪时对样品进行更详细的分析。HITACHI S9380-2机具有高精度的Oxford InTouch bruker探测器和用于自动图像采集的AXSY2 Pre-scanning工具。AXSY2可以补偿光束点的不稳定性，提供理想的成像环境。其高速数据采集可以显着减少高清图像的采集时间。S9380-2中还包括计算机辅助图像采集资产,允许用户调整兴趣区域（AOI）和扫描范围。该模型可以存储每个AOI的参数供以后使用，并提供广域成像、多角度成像和单发成像等多种图像捕获模式。该设备具有可选的自极性功能,可对其进行编程以捕获样品正负两侧的图像。它配备了七轴欧中心臂系统，以访问所需的任意扫描角度。其他可选功能包括低真空单元（LVS）和超高速穿梭喷射机（SSFIF）。该工具包括一个可选的高效接口,用于远程控制SEM。这允许用户从远程位置控制SEM,使他们能够灵活地执行各种操作,而无需前往计算机。此外,该资产还支持以太网通信进行数据传输,从而实现实时数据采集和分析。为了保护样品,HITACHI S9380-2 SEM提供了可选的Filtepoint TM过滤器,可减少样品发出的带电粒子和碎片的数量。它还包括特殊的安装级和附件，以便于处理样品。在样品制备方面，S9380-2与各种样品持有者兼容，包括存根、MEMS样品支持和纳米颗粒样品持有者。这些特性使得HITACHI S9380-2非常适合半导体、薄膜、材料科学、纳米技术、生物学等领域的一系列研究应用。它提供了强大的成像和分析功能,使用户能够以亚像素分辨率观察样品,从而获得更多细节和准确性。