二手 HITACHI Scanning Electron Microscope (SEM) #293672028 待售

HITACHI扫描电子显微镜（SEM）是一种强大的分析工具,能够以极高的放大倍率和无与伦比的细节查看样品。在扫描电子显微镜（SEM）中,快速扫描的一次电子束在一个表面上扫描,产生各种二次信号,然后对其进行分析以创建样品的详细图像。SEM装有钨丝电子源，电子束加速到1-20千伏之间。光束被聚焦成0.5-2.0微米之间的光束大小，从而可以进行极高的分辨率分析。光束与样品的相互作用产生二次电子、反向散射电子、俄歇电子、X射线和阴极发光，它们由电磁探测器阵列或电荷耦合装置（CCD）摄像机检测到。特殊的透镜可以应用在光束上创建立体图像，这对于三维分析特别有用。SEM还带有几个附件,可用于进一步分析样品.其中一种装置是能量色散X射线光谱仪，它提供了所研究样品的定性和定量元素组成。电荷耦合器件（CCD）相机为离线分析和归档提供图像。HITACHI SEM还开辟了一系列成像技术，如二次和反向散射成像、相位对比度成像和低压成像。这提供了一系列复杂的成像功能,可用于分析与样本相关的各种属性。HITACHI SEM的优势包括：高分辨率成像功能、多种成像技术、自动化样品准备和分析、大深度的景深和分辨率,以及能够以高达100万倍的倍率实现出色的对比度、亮度和颜色。HITACHI SEM凭借其精湛的成像分辨率，因其包括材料研究、金相、微加工和艺术保护在内的众多应用而日益受到大学、研究机构和行业的欢迎。它是一种非常有效的工具，用于检查样品的特征和特性，并提供令人难以置信的样品结构细节。