二手 HITACHI SU-70 #293829714 待售

ID: 293829714
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Schottky electron gun Signal control: SE, BSE Super ExB filter Magnetic flux Charge-up imaging Semi-in-lens mode High probe current: 100 nA Cryogenic sample stage Compositional-contrast imaging EBSP analysis by field-free mode Ultra-high resolution: 1.0nm/15kV, 1.6nm/1 kV Ultra-low accelerating voltage for shallow surface observation Sample chamber designed for a wide range of analytical accessories Detectors: EDX, WDX, EBSP, STEM, BSE, CL.
HITACHI SU-70是一种强大的扫描电子显微镜(SEM),旨在为广泛的材料和样品提供高分辨率的成像和元素分析能力。这台先进仪器配备了尖端技术和功能,使研究人员、科学家和工程师能够以非凡的细节和精确度研究各种样品的微观结构和表面特性。HITACHI SU70的核心是一个高性能的电子光学系统,它产生一个聚焦电子束,用于成像和分析。SEM利用热电子电子源产生高度准直的电子束,在样品表面上扫描以创建高分辨率图像。电子束与样品相互作用,产生二次电子、反向散射电子、特征X射线等信号,被检测出来并用于生成详细的图像和定量数据。SU 70配备了一系列探测器和成像模式,以适应不同的分析需求。该仪器的特点是二次电子成像用于地形信息,反向散射电子成像用于成分对比,X射线微分析用于元素识别和映射。这些成像和分析模式可以结合使用,以实现样品的微观结构、组成和性质的全面表征。除了成像和分析功能外,HITACHI SU 70还提供先进的自动化和用户友好软件,以实现高效的操作和数据处理。该仪器设计直观易用,具有用于样本导航、光束对准和数据采集的自动化功能。软件界面允许用户轻松控制仪器参数、调整成像设置、分析结果。SU70具有具有多个运动轴的机动化级,允许用户精确定位样品并针对特定的目标区域进行成像和分析。舞台可以手动控制,也可以通过软件界面控制,使用户能够扫描大面积,创建高分辨率图像,并进行精确度和可重复性的元素映射。凭借其先进的能力和用户友好的设计,SU-70是一个非常宝贵的工具,用于广泛的科学和工业应用。研究人员可以利用SEM来研究材料的微观结构,研究表面特性,分析缺陷和污染物,并以非凡的细节和精确度表征纳米颗粒和薄膜。工程师可以利用SEM在包括半导体、汽车、航空航天和材料科学在内的各个行业中进行质量控制、故障分析和工艺优化。总之,HITACHI SU-70是一种最先进的扫描电子显微镜,为研究、工业和学术界的各种应用提供高性能成像和分析能力。凭借先进的技术、自动化功能和用户友好的界面,SEM使用户能够以前所未有的清晰度和精确度探索微世界,成为科学发现和技术进步不可或缺的工具。
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