二手 HITACHI SU-70 #9049699 待售
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ID: 9049699
SEM
Used for e-beam lithography
Deben beam blanker with controller
Deben laser stage with controller
NPGS Input relay adapter for e-beam lithography
Ion gauges (IP1 and IP2)
High voltage tank
Water damage: Q1 2013.
HITACHI SU-70扫描电子显微镜(SEM)是一种最先进的成像仪器,提供无与伦比的成像质量和多功能性。它具有先进的分析能力,能够检查各种材料的样品。SEM可用于详细研究各种电子性质,并分析到原子水平的材料。SEM具有较高的成像分辨率,其特点是图像清晰度极佳,景深较深。通过将所有参数数字化,包括亮度、对比度、颜色等,可以快速轻松地获取准确的图像。该仪器还提供了广泛的图像增强功能,以展现样品的精细细节。SEM还具有广泛的能量能力,允许研究大量能量的材料。这种从极低到高的能量覆盖使得它适合于表面分析、晶体学、二次电子成像、俄歇电子光谱等多种应用。该系统具有多种自动化功能,如图像缝合,可用于进一步分析。系统的核心是高分辨率肖特基场发射电子源。这个光源是高度稳定的,产生一个低光斑大小的窄电子束,允许高水平的清晰度和分辨率。SEM允许高达20 kV的加速电压,允许用户精确分析各种样品。HITACHI SU70能够通过元素分析等选项获取数据以对样本进行定量分析。使用EDX探测器可以获取高分辨率图像,从而可以详细分析各种元素和化合物。此外,SEM还配备了自动后散射探测器,非常适合检查地形。该仪器专为易于使用而设计,具有易于导航的菜单和直观的软件。用户可以快速浏览菜单以选择所需的图像参数并开始快速成像。SEM还具有高级软件分析软件包(如Auto-Focus功能),以帮助识别相关功能,以及功能强大的图像分析软件包,允许用户处理图像。总之,SU 70扫描电子显微镜是一种功能强大、功能丰富的仪器。它提供高分辨率成像、各种样品类型的能量覆盖、广泛的自动化功能以及直观的软件。该系统具有向下到原子水平成像的能力,是检查和分析各种材料的宝贵工具。
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