二手 HITACHI TM-3030 #9067359 待售
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ID: 9067359
Scanning electron microscope, (SEM)
Tabletop microscope
(5) Image modes: Topography, composite, shadow-1, shadow-2, charge suppression mode
(3) Acceleration voltage modes: 3-stage 5kV, 15kV, 15kV high contrast (high
current)
Detector: Four Quadrant, High sensitivity semiconductor BSE detector
Electron Source: Pre-centered cartridge filament
Sample size: 70mm (W) x 50mm (H)
X/Y traverse: 35x35mm
Auto Image Focus: Auto start, focus and brightness
Data Save Format: jpeg, tiff, BMP
Data display: includes micron marker, micron value, date and time, image number comments
Measurement Software: Point-to-point measurement, text, area markings
Resolution: 30nm
Available Upgrades: X-Ray Chemical Analysis with data cube, expanded
X/Y traverse electronic stage with color camera navigation, sample tilt and rotation accessories.
HITACHI TM-3030是一种扫描电子显微镜（SEM），为从半导体到生物样品的一系列应用提供具有高景深能力的高分辨率成像。TM-3030提供快速样品交换与三向标本支架和零维护，热稳定SE探测器稳定成像。冷FEG（场发射枪）源通过多种功率和加速电压实现快速、高对比度的成像。源和检测器的自动对准系统便于设置和维护。HITACHI TM-3030包含用于广域成像（WAI）的大面积探测器。WAI提供低放大倍率的大面积概览,以减少观测时间而不影响分辨率。X-Y行程为145mm x 100 mm的电动级允许对大型样品或多个目标点进行高通量扫描。通过可选的颜色映射通道,TM-3030能够基于信号的多个组件生成3D彩色图像。这样可以更好地显示复杂的结构和更详细的信息。HITACHI TM-3030还具有内置的粒子分析系统，可用于识别样品中的粒子并确定其大小。该软件可收集多达1000个粒子的数据,并提供有关粒子直径、面积、数量和表面粗糙度的统计信息。TM-3030由用户友好、直观的软件包控制,该软件包提供全面的图像处理功能。这包括增强对比度和亮度、清晰度调整、直方图读数、感兴趣的区域测量和图像重迭的工具。HITACHI TM-3030是集成电路故障分析、材料科学样品表征、生物样品成像等广泛应用的绝佳工具。这款功能强大、可靠的SEM提供出色的图像分辨率、快速的样品交换以及易于使用的软件控制。
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