二手 HITACHI WA 1300 #9243647 待售

HITACHI WA 1300
ID: 9243647
Atomic Force Microscope (AFM).
HITACHI WA 1300扫描电子显微镜(SEM)是纳米级成像、评估、分析样品的高性能工具。它是一种具有可变压力控制设备的现场发射SEM,适合用于样品表面表征和分析、元素成分分析、3D-morphological测量等一系列应用。该系统配有电子枪、冷凝器透镜、成像透镜和样品室。电子枪产生狭窄聚焦的电子束,然后通过冷凝器透镜进入样品室,而成像透镜捕获并放大样品的图像。样品室本身提供可变压力控制,允许使用者调整压力以获得最佳成像或分析结果。成像单元用途广泛,具有高分辨率成像、高景深成像和自动化分析机等特点。高分辨率成像使用户能够将详细的观测结果降到亚纳米级,而高景深成像则允许同时观察高达3D级的特征。自动化分析工具可用于快速识别样品的众多属性,如其表面粗糙度、真实晶粒大小、元素组成和微观结构特征。HITACHI WA-1300能够在一系列成像和分析模式下运作,包括二次电子成像(SEI)和反向散射电子成像(BSEI)。SEI可以用来观察样品的表面特征,而BSEI提供了样品内部结构和元素的更深层次的视图。这两种成像模式都具有高度的通用性,并且可以在单个自动化过程中与其他分析功能结合使用。此外,资产还提供了EDS X射线映射、粒径分析、光谱显微镜等一系列分析功能。EDS X射线映射可帮助用户在分析点识别样品的元素组成,而粒径分析则可用于细粒的表征。光谱显微镜结合自动化分析模型可提供样品化学成分的详细信息,可用于准确识别和量化微量元素。WA 1300设备设计用于快速、准确的样品分析和成像,为用户提供了研究和了解纳米级各种样品的强大工具。它结合了现场发射SEM和可变压力控制系统,能够进行详细的观测和分析,而众多的成像和分析功能为材料科学、半导体等领域的研究人员提供了一系列选择。
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