二手 ISI / AKASHI DS 130C #9080012 待售

ISI/AKASHI DS 130C扫描电子显微镜（SEM）是一种先进的成像和分析设备。显微镜采用现代扫描电子光学和成像技术，为用户提供对单个纳米结构和纳米尺度特征的高分辨率成像和分析。该系统在0.1至30千伏范围内具有可调加速电压，适合广泛的研究和工业应用。SEM配备了高分辨率的Eucentric柱,可提供出色的几何稳定性和高分辨率成像能力。使用数字成像技术和图像处理算法相结合,生成高分辨率SEM图像,从而实现对比度和分辨率极高的优化图像。SEM采用广角炮和场发射源技术，即使在低加速电压下也能提供明亮、均匀的图像。介绍了二次电子（SE）成像、镜头内SE和反向散射（BSE）电子成像以及能量色散X射线光谱分析等多种检测器配置。SE和BSE成像探测器装有Ar离子枪源，用于清洗后清洗。为了优化SEM中的示例处理,可以通过自动电动驱动器单元在各种角度和XY坐标范围内移动该级。各种尺寸的介面卡都可以用来附着样本架，并且在机器正面包含一个样本加载区域。当样本环境发生变化时,还可以使用自动对焦功能来保持最佳图像质量。除了其成像和样本处理功能外,ISI DS 130C SEM还提供一系列分析功能,为用户提供深入的组成和结构信息。其中包括具有X射线映射功能的高级EDS、化学成像、相位分析和阴极发光测量。兼容的附件和软件从低真空扫描模块到自动级控制，到各种样品持有者和电子探测器。还提供了广泛的分析软件,提供了强大的图像分析、统计分析和3D重建工具。AKASHI DS 130C SEM由于具有可调节的加速电压、高分辨率成像能力以及广泛的分析附件和软件，是纳米结构和纳米尺度特征成像分析的理想平台。高性能和自动化的设计使其成为广泛研究和工业应用的理想选择。