二手 ISI SS40 #293799644 待售

ISI SS40
ID: 293799644
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM-7001F ISI SS40是一种高性能场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)。它能够在大视野上实现高分辨率(1.5nm)成像。SEM有一个柱内能量滤波器和一个内置的电子能量损失光谱仪(EELS)用于化学成分分析,以及一个内置的闪烁探测器用于反向散射电子(BSE)成像。SS40利用先进的FE枪进行高对比度和高分辨率成像。这是以门控抽取器设备和永久性聚焦线圈为基础,以维持枪的稳定性。标本室和样品保持在真空中,允许这种显微镜在需要时在超高真空(UHV)中工作。对于示例操作,ISI SS40具有带xyz推进驱动器的示例级,可提供全方位的运动。为了成像,SS40内置了列内能量滤波器和EELS。它们可以一起进行能量色散光谱(EDS)和波长色散光谱(WDS)分析。列内滤镜在光场和暗场模式下都提供了样本的高对比度图像。EELS探测器安装在列底,能够获取光谱以及创建样本的2D映射。ISI SS40还包括一个反向散射电子探测器来创建BSE图像。该探测器安装在下腔,能够以高效率检测从样品中散射的电子。使用此检测器,用户可以创建样本的高对比度图像。最后,SS40有一个自动真空控制系统来维持最佳的操作压力.该单元提供对腔室压力的实时监测,并使用计算机化维修机及时表明维护和清洁需求。总体而言,ISI SS40是一种功能强大、用途广泛的场发射扫描电子显微镜。它能够进行高分辨率成像和EELS、WDS和BSE分析,以提供对复杂纳米材料的全面了解。
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