二手 ISI SS40 #36254 待售

ISI SS40扫描电子显微镜（SEM）是为材料科学、生命科学等领域的高分辨率成像而设计的分析仪器。它能够对从宏观到纳米尺度的各种样品进行成像，并能够测量到原子水平的特征。SEM利用从从样品表面散射到探测器上的钨丝源发出的未聚焦电子束。成像是在真空环境中完成的，这使得电子可以不受干扰地穿过样品。通过观察光束与样品的相互作用，可以得到具有分子水平细节的图像。SS40 SEM配备了像差校正电子透镜，可直接成像50 nm以下的细微特征。它还具有先进的Pixcel探测器,可实现卓越的灵敏度和信噪比。ISI SS40针对分析和成像应用进行了优化,利用其广泛的特征来分析表面特征、化学、地形、组成等。它有一个算法辅助分析特征测量检测器（AFMD）与集成图像缝合系统。AFMD能够精确测量精细特征的位置，测量平面内和平面外晶体方向。另外，SS40可以提供相关的成像模式，其中可以同时获得扫描电子和光谱成像。ISI SS40包括许多其他专门为提高效率、准确性和便利性而设计的功能。它有一个自动化的低真空对准系统和自动化的舞台调整，以及一个内置的用于溅射或清洗操作的微波等离子体源。它还包括自动采样器界面和符合人体工程学的用户界面，配有"易于访问"的触摸控制和图形界面。SS40是研究纳米级特征和过程的一个非常强大的工具。从分析和成像功能到自动化工具和系统,ISI SS40旨在促进高分辨率成像和分析各种样本。