二手 JAM 7001f #9243701 待售

JAM 7001f
ID: 9243701
Scanning Electron Microscope (SEM) With Windows 10.
JAM 7001f是一种扫描电子显微镜(SEM),利用聚焦的电子小粒子束来实现一个表面的数字成像。利用二次电子(SE)成像、反向散射电子(BSE)和透射电子(TE)成像,7001 f提供了高达100,000X放大倍率的样品的强大微观分析。JAM 7001 f有一个单色电子枪,产生直径约1纳米的高度聚焦点。当这个电子束在一个物体的表面上扫描时,它会产生与样品特性相对应的信号。SE图像描绘了电子释放等原子特性,而BSE图像显示原子序数对比,TE图像提供原子位置。这使SEM能够创建样本表面最小细节的图片。7001 f的genScan功能允许对整个样本进行自动扫描,从而提供更加全面和详细的分析。此外,genXR自动模式识别工具能够收集有效的定性和定量数据。JAM 7001 f是最先进可靠的成像系统之一,提供高质量的成像分辨率和无与伦比的灵敏度。显微镜还具有全封闭的试样室、改进的真空泵和内置的试样架,可提供更好的稳定性、屏蔽和样品保护。7001 f还采用开放式软件设计,允许用户结合工具、数据库、3D体积数据以及自定义算法的自动接口。它还包括具有高级图像处理、3D图像渲染和批处理功能的ImageVision™成像软件。综上所述,对于需要高分辨率成像、精确特征测量和全面分析的用户,JAM 7001 f是一个极好的选择。7001 f具有自动扫描、强大的硬件设计和强大的成像软件,是各种SEM应用程序的理想选择。
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