二手 JAM JSM 7000F #9260023 待售

JAM JSM 7000F
ID: 9260023
Scanning Electron Microscope (SEM).
JAM JSM 7000F是一种扫描电子显微镜(SEM),用于观察各种研究环境中小样品的表面特征和组成。这种仪器能够在原子层面产生极高分辨率的图像。它具有多种功能,非常适合各种应用。JSM 7000F的有效采样面积为11 cm2,分辨率在0.2至50 nm之间。它具有高达10 kV的加速电压,允许清晰成像和高灵敏度。显微镜还配备了镜头内电磁场(EMF)检测器,提高了对低能信号的检测,降低了噪声。光束电流也是可调的,允许用户获得对比度和细节极高的图像。显微镜还具有一个在轴上,手动调节,两级磁透镜系统,使其能够达到最大分辨率和合适的成像结果。此外,扫描梯形系统允许同时获取具有不同放大倍数设置的多个图像。这个系统也可以用来控制扫描速度和信号采集的持续时间。JAM JSM 7000F配备了自动标本交换(ASE)功能,可以让标本从一个持有者快速、准确、安全地交换到另一个持有者。ASE可用于需要空气或液体冷却技术的样品。此特征还允许分析不同类型的元素和材料组成。内置探测器能够在明暗场设置中生成图像。再者,利用电子反向散射衍射(EBSD)探测器也可以用来处理和分析图像,使研究人员能够了解每个样品的晶体学取向。总体而言,JSM 7000F提供无与伦比的映像和分析功能。它降低了电子束的辐照和自动化的样品交换能力,以及高分辨率的成像。这使得它成为各种研究环境中分析小样本的首选。
还没有评论