二手 JEOL 100C #126353 待售

JEOL 100 C扫描电子显微镜（SEM）是一种强大的分析工具，用于从生命科学到材料工程的许多应用。它利用先进的电子光学、多探测器和定制的软件包来执行高分辨率成像、元素分析和化学分析。100 C具有高真空兼容室、新电子枪和电动级，提供了广泛的研究可能性。JEOL 100C在二次电子成像中提供高达10 nm的分辨率,在反向散射电子成像模式下提供高达5 nm的分辨率。其电子枪的最大工作距离为150毫米，最大加速电压为30 KV。它还具有低至10-3 Pa的可选择腔室压力范围，允许低真空操作。6 nm分辨率的高真空操作是低表面粗糙度样品高分辨率成像的理想选择。100 C配备了广泛的探测器，可用于成像和分析模式。其中包括提供元素和化学分析的大型STEM检测器，以及用于增强对比度的图像滤波器和用于样品分析的反向散射检测器。此外，JEOL 100C还具有二次电子检测器、EDX检测器、充电检测器等功能进行综合分析。100 C上的定制控制软件套件提供了广泛的功能。其中包括具有易于使用的极地导航系统的导航控制、用于对比度增强的图像滤波器控制以及用于自动成像和分析的全阶段可编程性。此外，JEOL 100C还支持样本准备，如横截面分析，并拥有专门应用的集成特征库。总之，100 C是一种先进的扫描电子显微镜，提供高分辨率成像和对各种样品的高级分析。它具有电动级、高真空相容室和广泛的探测器，是许多应用的理想工具。最后，JEOL 100 C集成软件包确保了成像和分析任务的一致和及时执行。