二手 JEOL 2000FX #78020 待售
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ID: 78020
Transmission electron microscope (TEM), 200kV
Configured as a CTEM
Thin window EDS detected
No analyzer or computer
Can be customized.
JEOL 2000FX是一种高分辨率场发射扫描电子显微镜(FESEM),提供定性成像、元素分析和纳米级材料表征。它能够在高和低真空模式下运行,分辨率范围为0.5至10 nm。JEOL 2000-FX利用场发射枪(FEG)产生非常稳定、高分辨率的电子束,提供增强的对比度和分辨率。该枪装有Gatan Performus™ 12k x 12k CCD成像探测器,用于高对比度、高分辨率成像。其防污染系统利用轻离子轰击和液氮冷却相结合,以减少标本污染的必须常见来源。2000FX还具有易于操作的低真空模式,专为纳米材料特性设计。低真空模式提供与高真空模式相同的成像和分析能力,但真空水平降低,使用专门为纳米级材料设计的特殊FESEM柱。这种模式是研究纳米材料的理想方式,因为纳米级特征保留其形状和大小而不会变形。2000-FX包括几个扩展功能的可选附件。其中包括一个用于收集用于三维成像的倾斜视图中的EDX分析的单个倾斜标本支架,一个用于分辨率极高的极低电压显微镜成像的先进透射照明检测器(ATILD),以及一个用于高分辨率成像磁性材料的内部磁场物镜。JEOL 2000FX是一种功能强大且用途广泛的成像工具,能够以合理的价格提供定性成像、元素分析和纳米级表征。JEOL 2000-FX具有快速的数据采集时间、易于操作的纳米材料低真空模式以及扩展功能的可选附件,是许多成像和分析应用的理想选择。
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