二手 JEOL 2010 #9157313 待售

JEOL 2010是一种高性能扫描电子显微镜（SEM），设计用于成像和分析各种材料样品。它提供高分辨率的成像,具有高达10kV的加速电子束,并允许超低电压,分辨率高达50 nm。它具有令人印象深刻的4个独立可调扫描级以及冷却温度控制器，在成像和试样操作过程中保持所需的温度。2010年内置了扫描环形暗场（ADF）探测器和专有的Focus Drift补偿设备,用于无模煳成像和增加放大倍率。ADF系统还提供不同深度的标本地形信息,以提高特定特征成像的精度。专有的EDS（能量色散X射线光谱）检测器可以精确分析样品的元素组成和形态。JEOL 2010还配备了专用的加热/发光放电模块,用于在样品上涂上薄薄的金或其他金属层。这种涂层能提高样品可见度，提供高对比度成像。该模块配有一个集成的加热板和一个温度监视器，用于对薄膜结构进行完美的微调，以获得所需的最终成像结果。除了令人印象深刻的功能外,2010还提供用户友好的控件和直观的菜单,以便于导航和快速访问信息。它还具有自动图像采集单元,可存储多达10个示例图像供将来参考和比较。该机与计算机控制的试样加载系统集成在一起，以提高精度和速度。总体而言,JEOL 2010是一款功能强大的扫描电子显微镜,提供高分辨率的成像和分析功能、直观的控制和用户友好的菜单,以及在所有SEM任务中的出色性能。通用仪器非常适合用于研究和工业环境，可以大大提高数据收集和分析的质量和准确性。